＜4200-SCS型半導体特性評価システム＞

【主な特徴と利点】
■ポイント＆クリックするだけの直感的なWindowsベース環境
■ユニークなリモートプリアンプ構造により、SMU の分解能を0.1fA に拡張
■先端半導体試験のためのパルス発生／測定
■パルス測定／スコープ機能を1 枚のカードに集約
■組込型PC により、テストの迅速なセットアップ、強力なデータ解析、グラフ表示＆印刷、テスト結果のオンボード大容量記憶が可能
■ユニークなブラウザスタイルのプロジェクトナビゲータによってテストをデバイス毎に整理し、複数のテストへのアクセス、テストのシーケンス制御とループ制御が可能
■5種類のJEDEC 準拠サンプル試験を添付、ポイント＆クリックでストレス/ 測定、ループ、データ解析を実行
■各種LCR メータ、ケースレーのスイッチマトリックス、ケースレー3400シリーズ、アジレント81110 のパルスジェネレータとの統合サポート
■カスケード・マイクロテックSummit 12K シリーズ、カールズースPA-200 / PA-300 型、マイクロマニピュレータ8860 型、Signatone CM500 プローバ、マニュアルプローブ用ソフトウェアドライバ付属
■ケースレーのIC-CAP デバイスモデリングパッケージドライバ、ケイデンスのBSIMProPlus/Virtuoso 、ミルバコのUTMOST デバイスモデリングツールのサポートなど、高度な半導体モデリングのサポート

＜2636A型2chシステムソースメータ (1fA, 10Aパルス)＞

【主な特徴と利点】
■精密電圧源、真の電流源、DMM、任意波形発生器、測定機能付V/Iパルス発生器、電子負荷、トリガコントローラ、すべてを一台に集約
■2600シリーズシステムソースメータのコードと下位互換、即座に置き換え可能
■TSP ExpressソフトウェアでI-V試験を素早く簡単に
■精細なタイミング、チャンネル同期(<500ns)
■パラレル試験実行で抜群のスループット
■20,000読取/秒の高速テスト、デバイスの過渡的な振る舞いもキャプチャ
■ファミリー製品で広い測定範囲をカバー: 1fA〜10A、1μV〜200V
■TSP-LinkバスによりGPIBまたはIPアドレスあたり32台/64チャンネルまでチャンネル拡張可能
■Test Script Processor (TSP)が完結した試験プログラムを測定器内で実行し、比類ない自動システム化が可能
■USBポートでデータとスクリプトを保存
■LXIクラスC準拠なので、簡単で素早いリモート試験、モニタ、トラブルシューティングが可能