【カタログプレビュー】回転軸割り出し角度計測システム XR20-W
【XR20-W】は、同社の「レーザー計測システム XL-80」とともに機能する回転軸割り出し角度計測システム。高精度のサーボ制御軸に統合された角度反射鏡より構成しており、この軸と本体のハウジングに対する光学部品の角度位置決めは、メインベアリングにスケールが直接刻みこまれた超高精度エンコーダシステムにより制御されている。マウンティングリング(キットに同梱)を使用してテストする軸に取り付ける。本製品をレーザー干渉計を組み合わせて使用することで、±1arc秒内の精度(1mの距離で5ミクロン未満の動きに相当)で軸の回転を測定することが可能。
発行元:レニショー株式会社