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近赤外撮影用テレセントリックレンズ

(株)ケンコー光学

最終更新日:2020/06/29

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  • 近赤外撮影用テレセントリックレンズ
高い透過率を実現
本製品は、赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行える近赤外撮影用テレセントリックレンズ。近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現。シリコンウェハやICチップなど半導体デバイスの内部観察、ソーラーパネルやLCDなど電気・電子部品の非破壊検査、ウェハやフリップボンダ用位置決めなどに最適。

製品カタログ・資料

近赤外撮影用テレセントリックレンズ
近赤外撮影用テレセントリックレンズ

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.14MB赤外カメラとSWIR光源の組み合わせにより、高倍率観察が行える近赤外撮影用テレセントリックレンズ。 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現。

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社名:
(株)ケンコー光学
住所:
〒 161-0031
新宿区西落合3-9-19
Web:
http://kenko-kougaku.co.jp/
TEL:
0369081230