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HEINA社 ランダム落下試験機 Tumble Tester II

エア・ブラウン(株) 電子機器部

最終更新日:2016/08/11

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  • HEINA社 ランダム落下試験機 Tumble Tester II
小型部品や製品の破壊テストに好適
【Tumble Tester II】は、さまざまな小型部品や製品の破壊テストに使用できるフィンランド/HEINA社のランダム落下試験機。IEC68-2-32、BS EN60068-2-32規格に準拠し、強固なアルミニウムフレームにより頑丈な構造を有している。また、安全カバーおよび電気ドアロックには、安全性を考慮した設計かつ美しいデザインがなされている。落下回数、回転速度などの条件設定は簡易操作にて可能。CEマーキングに対応。

製品カタログ・資料

ランダム落下試験機 Tumble Tester II
ランダム落下試験機 Tumble Tester II

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.18MB【Tumble Tester II】は、さまざまな小型部品や製品の破壊テストに使用できるフィンランド/HEINA社のランダム落下試験機。IEC68-2-32、BS EN60068-2-32規格に準拠し、強固なアルミニウムフレームにより頑丈な構造を有している。また、安全カバーおよび電気ドアロックには、安全性を考慮した設計かつ美しいデザインがなされている。落下回数、回転速度などの条件設定は簡易操作にて可能。CEマーキングに対応。主な仕様は以下のとおり。 (1)外寸:1160(W)× 1500(D) × 1600(H)mm (2)重量:200kg (3)落下高さ:1000mmと500mm(特注可能) (4)落下回数:1〜9999回 (5)落下レート:5〜15回/min (6)供給電源:100V 50〜60Hz (7)消費電力:0.18kW (8)最大試験物重量:1kg

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社名:
エア・ブラウン(株) 電子機器部
住所:
〒 104-0061
中央区銀座7-13-8 第2丸高ビル
Web:
http://www.arbrown.com/em/

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