製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります

フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30

(株)フィッシャー・インストルメンツ

最終更新日:2022/07/14

このページを印刷
  • フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
  • フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
  • フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
  • フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
  • フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
  • フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
Basler-StandardとDIN EN ISO17655に準拠
【FMP30】は、磁気誘導法によるBasler-StandardとDIN EN ISO17655に準拠したフェライト組織量の測定器。測定単位はWRC-FNあるいは%Feを選択可能。測定範囲は、0.1~80%Feあるいは0.1~110FNのフェライト組織量となる。平均値、偏差値、最小最大値、測定値幅などの統計処理機能付き。連続測定モードやデータをブロックごとに分けて記録するマトリックス測定モードを用意。お問い合わせはこちらへ。

仕様

用途オーストナイト鋼の溶接部や二相ステンレス鋼のフェライト組織量の測定
寸法本体寸法:170×90×35mm(L×W×H)
LCDディスプレイ:44×57mm(L×W)
重量約340g(プローブ無し)

その他の情報

    測定方法:磁気誘導法
    測定値記録:20,000件
    電源:単3電池×4本、またはACアダプタ
    その他:測定レンジ、繰り返し精度は接続プローブの仕様による

製品カタログ・資料

フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30
フェライト組織量の測定器 フェライトスコープFMP30

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:2.52MB【FMP30】は、磁気誘導法によるBasler-StandardとDIN EN ISO17655に準拠したフェライト組織量の測定器。測定単位はWRC-FNあるいは%Feを選択可能。測定範囲は、0.1~80%Feあるいは0.1~110FNのフェライト組織量となる。平均値、偏差値、最小最大値、測定値幅などの統計処理機能付き。連続測定モードやデータをブロックごとに分けて記録するマトリックス測定モードを用意。

会社情報

(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツ
〒 340-0012  草加市神明1-9-16

https://www.helmutfischer.jp/
詳細はこちら
企業ロゴ

新着製品情報

ニコン製 デジタル測長機 DIGIMICRO
ニコン製 デジタル測長機 DIGIMICROエドモンド・オプティクス・ジャパン(株)
マイクロフォンシステム Konos(コノス)
マイクロフォンシステム Konos(コノス)タックシステム(株)
オーディオアナライザ MAS-8500/8500DA
オーディオアナライザ MAS-8500/8500DA株式会社計測技術研究所
3次元変位計測システム DAMSYS(ダムシス)
3次元変位計測システム DAMSYS(ダムシス)計測ネットサービス(株)
電子数取器/データロガー DK5000シリーズ/M16シリーズ
電子数取器/データロガー DK5000シリーズ/M16シリ…ライン精機株式会社
インライン濁度測定システム InPro8600/M800
インライン濁度測定システム InPro8600/M800メトラー・トレド(株)
光学・画像測定装置 Swift PRO
光学・画像測定装置 Swift PRO日本ヴィジョン・エンジニアリング株式会社
高精度スタイラス OPTiMUMダイヤモンドコートスタイラス
高精度スタイラス OPTiMUMダイヤモンドコートスタイ…レニショー株式会社

企業基本情報

社名:
(株)フィッシャー・インストルメンツ
住所:
〒 340-0012
草加市神明1-9-16
Web:
https://www.helmutfischer.jp/

おすすめ情報

  • <技術資料 膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

    本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。

  • <技術資料 膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと>

    【膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。

  • <非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

    【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
    ■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定