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コントローラ DC-Q-G

サンテスト(株)

最終更新日:2018/01/30

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  • コントローラ DC-Q-G
GYセンサで32点同時計測が可能
【DC-Q-G】は、三菱電機社製シーケンサ「MELSEC-Qシリーズ」用のGYセンサ変換器ユニット。磁歪式センサ(GYシリーズ)を最大2軸まで接続。検出器で検出した信号を信号変換回路にてデジタル信号に変換。各軸のバイナリ信位置データはバッファメモリを介してCPUから読み出せる。

その他の情報

    (1)対応PLC:MELSEC-Q用のI/Oユニットとして、Qバスに接続可能。

    (2)適合検出器:本モジュールは、GYシリーズに適合。

    (3)センサ値:センサプローブに沿って移動するマグネットの位置を、任意の分解能(最小1μm)で出力。位置出力はフルアブソリュート方式のため、頼性の高いデータが得られる。

    (4)マルチマグネット対応:3個までのマグネット位置を同時検出可能(オプション:1軸仕様の場合は最大32個対応可能)。

    (5)ゼロ設定機能:CPUからのY出力より、ゼロ位置を変更可能。

    (6)上下限リミット検出機能:設定した上下限値に対し、リミット出力。

    (7)外部プリセット機能:外部入力信号により、ゼロ位置を変更可能。

    (8)パルス出力機能(型式オプション):外部にA/B相パルスを出力。

    (9)自己診断機能(RAS機能):次の4つの異常を検知します。センサ未接続、

    内部ハードウェア異常、センサマグネット異常、センサデータ異常

    (10)RoHS指令対応

製品カタログ・資料

コントローラ DC-Q-G
コントローラ DC-Q-G

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.29MB【DC-Q-G】は、三菱電機社製シーケンサ「MELSEC-Qシリーズ」用のGYセンサ変換器ユニット。磁歪式センサ(GYシリーズ)を最大2軸まで接続。検出器で検出した信号を信号変換回路にてデジタル信号に変換。各軸のバイナリ信位置データはバッファメモリを介してCPUから読み出せる。

会社情報

サンテスト(株)

サンテストは、センサを中心とするメカトロニクス機器の開発・製造・販売を行っている企業です。
最先端のハイテク技術を駆使したオリジナル製品は各分野から高い評価と信頼を獲得しています。

サンテスト(株)
〒 554-8691  大阪市此花区島屋4-2-51

http://www.santest.co.jp/
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企業基本情報

社名:
サンテスト(株)
住所:
〒 554-8691
大阪市此花区島屋4-2-51
Web:
http://www.santest.co.jp/

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