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半導体電気特性評価 テラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター

西華デジタルイメージ株式会社

電場強度と共に位相情報も同時計測が可能

本装置は、複素誘電率(複素屈折率)の周波数依存性を計測できるテラヘルツ分光装置・テラヘルツエリプソメーター。光と電磁波の強化周波数である帯域(THz)に対応。テラヘルツ波の入射による反射楕円偏光の解析で、半導体のさまざまな電気的特性を算出する。テラヘルツ波は透過性と物質の同定能力を備え、電波より短波長で微小観察に最適。また低エネルギーのため、分子間の結合状態の観察にも応用可能。

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会社情報

西華デジタルイメージ株式会社

当社は2012年に西華産業株式会社(東証1部:8061)の100%子会社として、主に放送映画用デジタルカメラ並びにその周辺機器の販売会社として誕生いたしました。
2014年、西華産業からレーザー計測部門を事業吸収することにより、航空機などの流体解析や自動車エンジン燃焼モニタリング分野などへの販売事業範囲を拡げました。
2015年、電気化学、バイオケミカル計測部門事業を追加することにより、燃料電池やライフサイエンスなどの、より幅広い業種に、より高精細で高解像度のデジタルイメージをご提供することができるようになりました。
また単なるデジタルイメージ技術だけでなく、センサーテクノロジーや数値解析などさまざまなソリューションも用意いたしております。
どうぞ、当社の誇る最先端のデジタルイメージテクノロジーをご活用いただくと共に、ご愛顧のほど何卒宜しくお願い申し上げます。

西華デジタルイメージ株式会社
〒1070052
東京都 港区赤坂4-9-6 タク赤坂ビル
電話: 0334051280
https://www.seika-di.com/