光学測定・精密測定など、計測業界の最新製品・技術・情報が一堂に集まる展示会「測定計測展2017」に複数の解析システムデモコーナーを設けて製品を出展

2017/08/31

(株)フォトロン

株式会社 フォトロン(本社:東京都千代田区、代表取締役社長 布施信夫)は、2017年9月13日(水)~15日(金)まで、東京ビッグサイトで開催される「測定計測展2017」に出展します。

■出展概要
運動解析・ひずみ解析・温度解析などに世界トップクラスの撮影性能を持つハイスピードカメラを用いた“スローモーション解析システム”を提案。計測における研究開発をサポートします。
フォトロンブースでは、研究開発向けハイスピードカメラ『FASTCAMシリーズ』を出展し、【落下試験の運動解析】【引張試験のひずみ解析】【溶接試験の温度解析】などのアプリケーションを中心に事例紹介を交えてシステムをご紹介いたします。この機会にぜひ、ご来場ください。【ブース: No.M-44(東5ホール)】

▼ 出展詳細ページ
http://www.photron.co.jp/products/image/event/mte2017/

■出展製品
◇世界トップクラスの高速撮影性能を誇るハイスピードカメラ『FASTCAM SA-Z』
・最高2,100,000コマ/秒の撮影を実現したハイエンドモデル
・超高速データ保存システム“FAST Drive”に対応した最新モデルも実機で展示

◇小型軽量ハイスピードカメラ『FASTCAM Mini』シリーズ
・小型軽量と高性能を両立したハイスピードカメラ
・最高900,000コマ/秒の撮影速度と超高感度性能(モノクロISO40,000※ISO 12232 Ssat規格)を搭載[Mini AX]

◇分離マルチヘッドモデル 多機能ハイスピードカメラ『FASTCAM Multi』
・小型軽量カメラヘッドを2台同時に接続でき、アナログ波形データも同期取得可能な多機能ハイスピードカメラ
・超高速データ保存システム“FAST Drive”に対応した最新モデルも実機で展示

■開催概要
名称:測定計測展2017
会期:2017年9月13日(水)~15日(金)[3日間] 10:00~17:00
会場:東京ビッグサイト・東ホール
主催:日本光学測定機工業会・日本精密測定機器工業会