SEM試料作製用トリプルイオンミリング ライカ EM TIC 3X

ライカマイクロシステムズ(株)

冷却ステージ、マルチサンプルステージなどの新機能を搭載

【ライカ EM TIC 3X】は、走査型電子顕微鏡(SEM)、微細構造分析(EDS、WDS、オージェ、EBSD)やAFM測定のための断面作製装置。3本のイオンビーム(個別に制御可能)に加え、冷却ステージ、マルチサンプルステージなど新機能を搭載。試料を高速かつ広く深くミリングを行い、高品質な断面を作製可能。硬質材料と軟質材料が積層または混在する試料、多孔質試料、熱に敏感な試料、脆性試料、不均一材料などほとんどすべての材料について、変形や損傷を最小限にとどめながら内部構造を明らかにすることができる。

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ライカマイクロシステムズ(株)

ライカ マイクロシステムズは、顕微鏡および科学機器分野における世界的なリーディング メーカーの一つです。
ライカの工業用機器は、デジタルマイクロスコープ、金属顕微鏡、偏光顕微鏡、実体顕微鏡、イメージングシステム顕微鏡用デジタルカメラと、幅広いラインナップと高性能な光学技術で、生産・検査の現場で活躍しています。

顕微鏡観察前処理装置として、光顕用ミクロトーム、SEM用ウルトラミクロトーム、イオンミリング、コーターも高いシェアを誇ります。

ライカマイクロシステムズ(株)
〒1690075
東京都 新宿区高田馬場1-29-9
電話: 0367585680
http://www.leica-microsystems.co.jp