Dimensional X線CT ZEISS METROTOM800／METROTOM1500
- 最終更新日:2018/07/02
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内部計測が可能で高精度、VDI／VDE準拠の精度保証：4.5＋L／50μm
【ZEISS METROTOM800／METROTOM1500】は、樹脂や軽金属を中心に、見えない箇所も簡単に寸法測定・形状評価ができる高精度X線CT。内部の欠陥観察だけではなく、ドイツの規格であるVDI／VDE2630に準拠したトレーサビリティのとれた測定精度を持って寸法測定を実現。測定評価には汎用測定ソフトウェア「ZEISSCALYPSO」を使用することで門移動型座標測定機と同様のサイズ、形状、位置といった3次元座標測定技術を用いた専門的分析が可能。
関連製品カタログ
Dimensional X線CT METROTOM800とMETROTOM1500の仕様をご紹介致します。
会社情報
ドイツ カールツァイス社とのコラボレーションにより、最先端計測技術であるX線CT計測機器を軸とした装置販売から、関連設備・ソフトウェア販売、受託検査サービスまで幅広くサポート致します。最新の計測技術を、皆様の製品開発に是非お役立てください。
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