開発中製品 薄膜飽和磁歪測定装置

開発中製品 花粉測定器
薄膜飽和磁歪測定装置
特徴

・高感度 10-8台の測定を。

・高精度 光ヘテロダイン干渉法による変位校正機能搭載。

・最大印加磁場 100 Oe。

用途

・薄膜磁気ヘッド材料の磁歪測定。

・薄膜磁気センサー材料の磁歪測定。

・各種軟磁性薄膜の磁歪測定。