製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります

蛍光X線式測定器 XDLシリーズ

(株)フィッシャー・インストルメンツ

最終更新日:2022/07/13

このページを印刷

比例計数管を搭載

【XDLシリーズ】は、比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器。使いやすい卓上型で、さまざまなXYステージのラインナップを取り揃えている。ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状サンプルも測定可能。プログラマブルXYステージ付きのモデルで、自動連続測定が行える(XDL 240)。お問い合わせはこちらへ。

試験・検査装置│その他の試験・検査機器│

その他の情報

製品カタログ・資料

: 蛍光X線式測定器 XDLシリーズ
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.27MB【XDLシリーズ】は、比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器。使いやすい卓上型で、さまざまなXYステージのラインナップを取り揃えている。ハウジングに細い開口部（Cスロット）があり、大きな板状サンプルも測定可能。プログラマブルXYステージ付きのモデルで、自動連続測定が行える（XDL 240）。お問い合わせはこちらへ。

関連製品カタログ・資料

会社情報

: Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております
(株)フィッシャー・インストルメンツ
〒 340-0012 草加市神明1-9-16

https://www.helmutfischer.jp/
詳細はこちら

製品ご紹介

蛍光X線式測定器 XDLシリーズのお問い合わせ

お問い合わせはこちら

アンケートご協力のお願い

企業ロゴ

新着製品情報

: トルクメーター HPシリーズ HP-100(ワイヤレス)／HP-…(株)ハイオス

: PVレジスタンスチェッカ PVR-1500新栄電子計測器(株)

: シリコン基板ホルダ株式会社大興製作所

: 色・絵柄検査装置 PPLB-210(株)パパラボ

: 簡易放射イミュニティ試験システム(株)ノイズ研究所

: SWIR＆NIR 25-250mm f／5.5・f／4.0連続ズームレンズ(株)オフィールジャパンオプティカルソリューショ…

: 異品種画像選別装置パーツファインダー KPF-300(株)光伸舎

: 音響カメラ SoundGraphy豊田通商システムズ株式会社

ランキング

: ピンホールチェッカーイオニック20アテック(株)

: 5軸タッチトリガーシステム PH20レニショー株式会社

: オープントップテストソケット GUT30Kシリーズ日本コネクト工業(株)

: 日本CAD社製回線遅延シミュレータ Ethdelay2 PRO ED2…コアスタッフ株式会社

: 24GHzレーダーデモキットインフィニオンテクノロジーズジャパン(株)

: RIEGL社製小型UAV搭載型レーザースキャニングシステ…リーグルジャパン(株)

: LED対応UVラベル日油技研工業(株)

: アース導通試験器 TOS6210菊水電子工業(株)

: HDD/SSD障害解析・選定評価ソルナック(株)

: 音響カメラ SoundGraphy豊田通商システムズ株式会社

関連キーワード

企業基本情報

社名：: (株)フィッシャー・インストルメンツ

住所：: 〒 340-0012
草加市神明1-9-16

Web：: https://www.helmutfischer.jp/

おすすめ情報

<技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。
<技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定