開催期間：2025年11月12日 10:00 〜 2025年11月14日 17:00
URL：https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp.html#/
会場：幕張メッセ ブース番号：37-26
当社では、微小部品や構造部の非破壊による膜厚測定および素材分析を可能とする蛍光X線膜厚測定器や、メッキ皮膜・塗装の膜厚を簡単に測定できる小型膜厚計などの製品を出展予定です。
お客様の測定課題に対して最適なソリューションをご提案できる機会としたく存じます。
皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。
<技術資料 膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>
本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。
<技術資料 膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと>
【膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定