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【終了】第12回高機能金属展大阪

開催期間：2025年05月14日 10:00 〜 2025年05月16日 17:00

URL：https://www.material-expo.jp/osaka/ja-jp/visit/metal.html

会場：インテックス大阪 2号館　ブース番号：6-76

このたび弊社は、来る2025年5月14日（水）～5月16日（金）、インテックス大阪にて開催されます「第12回高機能金属展大阪」に出展いたします。

当社では、微小部品や構造部を非破壊で膜厚測定と素材分析する蛍光Ｘ線膜厚測定器、メッキ皮膜や塗装の膜厚を簡単に測定できる小型膜厚計などを出展する予定です。

お客様の測定課題の最適な方法をご提案する機会にしたい所存でございます。
皆さまのご来場を心よりお待ちしております。

■出展予定製品
ハンドヘルド型蛍光X線式測定器 XAN500
ハイエンドモデルの蛍光Ｘ線膜厚測定器 XDVシリーズ
 メッキの膜厚測定に適した渦電流位相式の膜厚計 Phascope PMP10
ハンディタイプの高性能な導電率計シグマスコープSMP350
ポケットサイズの電磁式＆渦電流式膜厚計デュアルスコープMP0R
高機能型のハンディ膜厚計 DMPシリーズ
 膜厚測定・材料試験のマルチ測定システム MMS PC2

おすすめ情報

<技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。
<技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定