(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツのトピックス

2025/06/16

■一部製品の一時受注停止に関するお詫びとお知らせ

平素より弊社製品をご愛顧いただき、誠にありがとうございます。
このたび製造上の都合により、2025年6月16日(月)以降、一部製品の受注を一時停止せざるを得ない状況となりました。
これにより、お客様には多大なるご不便とご迷惑をおかけすることとなり、深くお詫び申し上げます。

受注停止の対象となる製品については、以下をご参照ください。

受注停止製品名
●プローブ D-F-Fe（対応機種：FERITSCOPE DMP30）

現在、可能な限り早期の受注再開を目指しております。再開の際には、改めてご案内申し上げます。
この度の件でお客様にご迷惑をおかけしましたことを重ねてお詫び申し上げます。

今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、何卒よろしくお願い申し上げます

2024/12/16

■年末年始休暇のお知らせ
誠に勝手ながら、弊社の年末年始休業を下記の通りとさせていただきます。休業期間中のお問い合わせは、弊社ホームページの「お問い合わせフォーム」よりお願いいたします。

休暇後に順次対応させていただきます。ご迷惑をおかけいたしますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

休暇期間：2024年12月28日（土）～2024年1月5日（日）

2024年1月6日（月）から、通常通り営業いたします。

2024/11/18

■「パートナーシップ構築宣言」を公表いたしました。
サプライチェーン全体で共存共栄を促進するために、弊社は 2024 年 11月 15 日に新しいパートナーシップ構築宣言を公表いたしました。

この宣言は、取引先企業やビジネスパートナーと協力し、価値を創造し、持続可能な成長を促進してまいります。

「パートナーシップ構築宣言」についてはこちら：
https://www.biz-partnership.jp/outline.html

これからもお客様により良いサービスをご提供できるよう邁進してまいりますので、引き続きよろしくお願いいたします。

2024/07/29

■夏季休暇のお知らせ
誠に勝手ながら、弊社の夏季休暇を下記の通りとさせていただきます。

期間中にいただきましたお問い合わせは、休暇後に順次対応させていただきます。
ご迷惑をおかけいたしますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

休暇期間：2024年8月10日（土）～8月18日（日）

2024年8月19日（月）から、通常通り営業いたします。

2024/07/09

■名古屋営業所移転のご案内
拝啓　時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り厚く御礼申し上げます。
さて、このたび、弊社は業務拡充に伴い名古屋営業所を下記住所へ移転する運びになりましたのでご案内申し上げます。
移転に伴い、住所・電話番号・FAX 番号が下記の通り変更となりますので、お手数をお掛けいたしますが、お手元の控えをご変更くださいますようお願い申し上げます。
これを機に、社員一同気持ちを新たに一層精進してまいりますので、今後とも変わらぬお引き立てを賜りますようお願い申し上げます。
敬具

新所在地〒461-0002 愛知県名古屋市東区代官町33-9 K-BLDG 4 階
電話番号 052-325-3891（新番号）
FAX 番号 052-325-3892（新番号）
営業開始日 2024 年8 月1 日（木）

※旧事務所は7 月26 日(金)まで通常通り営業いたします。

移転に伴い、2024 年7 月29 日(月)は電話、FAX ともに繋がりませんのでご注意下さい。
また、7 月30，31 日につきましても、上記電話番号が繋がりにくい場合がございます。
繋がらない場合は担当者へ直接ご連絡ください。

おすすめ情報

: <技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。

: <技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。

: <非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定

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