(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツのトピックス

2023/12/15

■年末年始休暇のお知らせ
誠に勝手ながら、弊社の年末年始休業を2023年12月30日(土)～2024年1月4日(木)とさせていただきます。
2024年1月5日(金)から、通常通り営業いたします。
休業期間中のお問い合わせにつきましては、休暇後に順次対応させていただきます。
ご迷惑をおかけいたしますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

2023/12/01

■ISO/IEC 17025認定取得
この度、当社品質管理部は、ISO/IEC 17025試験所認定機関であるPJLA(ペリージョンソンラボラトリーアクレディテーション)から電磁式膜厚測定器および渦電流式膜厚測定器の校正機関として認定されました。
「ISO/IEC 17025」は試験所・校正機関を審査して、試験・校正を行う能力を持っているのかを認定する国際的に認められた品質管理規格です。
ILAC、APACとの間で相互承認協定(MRA)を結んでいる認定機関からの取得により、当社発行のISO/IEC 17025校正証明書は国内に限らず海外でも、より信頼性あるものとして認められ、多くのお客様からのご要望にお応えできることとなりました。詳しくは下記URLをご覧ください。
https://www.helmutfischer.jp/company/iso-iec-17025/

2023/09/26

■代表取締役の異動に関するお知らせ
当社は、2023年9月25日開催の取締役会において、下記のとおり代表取締役の異動について決議いたしましたので、お知らせいたします。

　記

◆異動の理由
経営トップの若返りをはかり、持続的な成長と中長期的な企業価値の向上を目指すため。

◆異動の内容
安田　光春
　新役職：代表取締役社長
　現役職：取締役

野中　等
　新役職：取締役相談役
　現役職：代表取締役社長

◆新任代表取締役社長の略歴
安田　光春（やすだ　みつはる）
　生年月日：1977年4月20日
　略　　歴：2016年4月　当社入社
　　　　　　2023年4月　取締役就任（現任）

◆就任予定日
2023年12月1日

2023/09/04

■デモセンター開設および本社移転のお知らせ
拝啓　時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り厚く御礼申し上げます。
　さて、この度弊社では、業務の更なる拡大とお客様のご要望に密に対応するため、デモセンターを開設することになりましたのでご案内申し上げます。
　また、より一層充実したサービスをご提供できるよう、業務の一元化を図るため、本社機能を本店事業所に統合し、現在の本店事業所を本社といたします。
　社員一同、気持ちを新たに、皆さまのご愛顧にお応えできるよう最善を尽くす所存でございますので、今後ともご支援ご鞭撻のほどよろしくお願い申し上げます。
敬具

デモセンター
開設日：　2023年11月1日（水）より
所在地：　〒340-0041 埼玉県草加市松原4-1-7

本社
東京本社閉鎖日：　2023年9月29日（金）

＜本社＞
住所：　〒340-0012 埼玉県草加市神明1-9-16
TEL：　048-929-3455　　FAX：　048-929-3451
※本社（旧本店事業所）の住所、電話番号、FAX番号に変更はありません。

9月29日以降の本社へのご郵送は、上記住所までご送付ください。

2023/08/03

■夏季休暇のお知らせ
誠に勝手ながら、弊社の夏季休暇を下記の通りとさせていただきます。期間中にいただきましたお問い合わせは、休暇後に順次対応させていただきます。
ご迷惑をおかけいたしますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

休暇期間：2023年8月11日（金）～8月16日（水）

2023年8月17日（木）から、通常通り営業いたします。

おすすめ情報

: <技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。

: <技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。

: <非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定

(株)フィッシャー・インストルメンツ