(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは60年以上にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツの代理店・支店

支店一覧

大阪営業所
〒560-0082
大阪府豊中市新千里東町 1-5-3
千里朝日阪急ビル13階
TEL：06-6873-5560
FAX：06-6873-5559
名古屋営業所
〒460-0003
名古屋市中区錦1-6-5
名古屋錦シティビル8階
TEL：052-209-9910
FAX：052-209-9980
九州サービスセンター（c/o (有)九州技研）
〒811-1213
福岡県筑紫郡那珂川町中原5-99-3
TEL：092-953-0547
FAX：092-953-2309

(株)フィッシャー・インストルメンツのトピックス

2021/01/14

～「緊急事態宣言」発令に伴う当社の対応について～

新型コロナウイルスによる感染症に罹患された皆さま、および影響を受けられた皆さまに謹んでお見舞い申し上げます。このたびの政府の緊急事態宣言の再発令を受け、当社の対応方針について改めてお知らせいたします。

当社は昨年4月以降、お客様および従業員の感染防止と安全確保を最優先に活動してまいりました。
今後も、以下の通り新型コロナウイルス感染拡大予防策に最大限留意し、政府・各地方自治体の方針に準拠して営業を継続いたします。

お客様のご用命内容によりましては、ご対応にお時間をいただく場合や、電話がつながりにくい場合がございます。ご不便をおかけいたしますが、これまで以上にご愛顧いただけますようサービス向上に誠心誠意努めてまいります。

何卒ご理解、ご協力を賜りますようお願い申し上げます。

【電話受付時間】
　9:00 ～ 17:30

【感染防止への取り組み】
・フレックスタイム制の活用による時差出勤や在宅勤務の推奨
・出社前の検温の実施と報告の徹底
・マスク着用を含む咳エチケットと手洗いの徹底
・密集環境をつくらないソーシャルディスタンスの実践
・海外出張の原則禁止、不要不急な国内出張の中止や延期
・家族に濃厚接触者または感染者が発生した場合の報告と自宅待機
・各執務フロアや共有部における定期的消毒の実施と換気の徹底

2017/08/23

＜MP0Rシリーズ旧型品の修理対応および保守終了のお知らせ＞

この度、長年ご愛顧いただいております小型膜厚計 MP0Rシリーズの旧型品の修理対応につきまして、部品の入手が困難になったため、恐れ入りますが下記のように修理対応、または保守終了とさせていただきますのでご了承くださいますようお願い申し上げます。

＜修理終了製品＞
対象機種 DUALSCOPE MP0R（603-539）
出荷時期 2004年～2009年
シリアル番号 SN03000xxxx～SN06000xxxx

なお、修理を伴わない点検・校正検定作業は引き続き承ります。故障個所によっては、修理可能な場合もございますのでお問い合わせください。

＜システム基板終了製品＞
旧型のシステム基板が入手困難なため、部品無くなり次第に現行品のグラフィックタイプのシステム基板への交換修理となります。そのため、本体の操作方法も変わりますのでご了承ください。

対象機種 DUALSCOPE MP0R USB（604-048、604-444、604-555）
PERMASCOPE MP0R USB（604-533）
DUALSCOPE MP0R-FP USB（604-049D、604-556/D、604-533）
PERMASCOPE MP0R-FP USB（604-049P、604-556P）
ISOSCOPE MP0R-FP USB（604-049I、604-556I）
出荷時期 2009年～2014年
シリアル番号 SN07000xxxx～SN14000xxxx

＜お問い合わせ先＞
株式会社フィッシャー・インストルメンツ　サービス部
TEL：048-929-3455
FAX：048-929-3451

おすすめ情報

: <微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-μ>

【XDV-μ】プリント回路基板、コンタクトピン、リードフレームなどの非常に小さく平らな部品や構造部分を測定
最小径:10μmの集光レンズ(ポリキャピラリーレンズ)搭載と、検出器に、半導体検出器の中でも最高性能クラスとなるSDD(シリコンドリフトディテクタ―)採用により、微小部のメッキ膜厚を短時間で高精度に測定できる微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器。従来は測定できなかった微小部の薄膜メッキ、基板の微小パッドなども高精度に測定。また、集光レンズによりX線照射時のエネルギーロスが限りなく小さく、従来では難しかった厚付けスズメッキの下にあるニッケルメッキの膜厚測定にも対応。プリント基板やコネクタの小型化、薄膜化を実現する。

: <マルチ測定システム FISCHERSCOPE MMS PC2>

【FISCHERSCOPE MMS PC2】は、膜厚測定と材料試験を1台で測定することが可能で、品質管理が重視されるあらゆる分野で使用されているマルチ測定システム。高い汎用性を有し、多くの測定アプリケーションに応用できる。膜厚、導電率、フェライト組織量の測定に関して、高精度で再現性の高い測定を提供。また最大8つのモジュールボード搭載可能で、同時測定やプローブ交換することによりさまざまな測定が行える。LAN接続、USBポート、RS232接続によるデータ転送が可能。

: <微小硬さ試験機 PICODENTOR HM500>

【PICODENTOR HM500】は、ナノレンジの多層コーティング・微細構造物・メッキ断面などの硬さ測定ができる最上位モデルとなる微小硬さ試験機。プログラミング可能なXYステージ、電動Z軸、高倍率顕微鏡カメラを搭載し、微小部の硬さ測定も容易に行える。サンプルの前処理無しでほとんどのサンプルを素早く測定できる。

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