(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツのトピックス

2025/07/30

■夏季休暇のお知らせ

誠に勝手ながら、弊社の夏季休暇を下記の通りとさせていただきます。期間中にいただきましたお問い合わせは、休暇後に順次対応させていただきます。
ご迷惑をおかけいたしますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

休暇期間：2025年8月9日（土）～8月17日（日）

2025年8月18日（月）から、通常通り営業いたします。

2025/07/30

■【お知らせ】ESD2.4プローブ販売再開の延期について

7月2日より販売再開予定としてお知らせしておりましたESD2.4プローブにつきまして、諸事情により再開が遅れ、現在、9月初旬のドイツ工場出荷を予定しております。

再開をお待ちいただいているお客様には、多大なるご迷惑をおかけしておりますことを、深くお詫び申し上げます。

納品まで今しばらくお時間をいただきますが、何卒ご理解賜りますようお願い申し上げます。

2025/07/07

■プローブ販売再開のお知らせ

平素より格別のご高配を賜り、誠にありがとうございます。
このたび、一時的に受注を停止しておりました一部の製品につきまして、2025年7月2日より販売を再開いたしましたことをご案内申し上げます。

販売再開の対象となる製品については、以下をご参照ください。

販売再開製品名
・プローブ ESD20 Zn（対応機種：PHASCOPE PMP10、MMS PC2）
・プローブ ESD2.4（対応機種： PHASCOPE PMP10、MMS PC2）
・プローブ FN4D（対応機種：DUALSCOPE H FMP150、MMS PC2）

この度の件でお客様には長らくご不便・ご迷惑をおかけいたしましたことを、改めましてお詫び申し上げますとともに、今後とも変わらぬご愛顧のほどお願い申し上げます。

2025/06/16

■一部製品の一時受注停止に関するお詫びとお知らせ

平素より弊社製品をご愛顧いただき、誠にありがとうございます。
このたび製造上の都合により、2025年6月16日(月)以降、一部製品の受注を一時停止せざるを得ない状況となりました。
これにより、お客様には多大なるご不便とご迷惑をおかけすることとなり、深くお詫び申し上げます。

受注停止の対象となる製品については、以下をご参照ください。

受注停止製品名
●プローブ D-F-Fe（対応機種：FERITSCOPE DMP30）

現在、可能な限り早期の受注再開を目指しております。再開の際には、改めてご案内申し上げます。
この度の件でお客様にご迷惑をおかけしましたことを重ねてお詫び申し上げます。

今後とも変わらぬご愛顧を賜りますよう、何卒よろしくお願い申し上げます

2024/12/16

■年末年始休暇のお知らせ
誠に勝手ながら、弊社の年末年始休業を下記の通りとさせていただきます。休業期間中のお問い合わせは、弊社ホームページの「お問い合わせフォーム」よりお願いいたします。

休暇後に順次対応させていただきます。ご迷惑をおかけいたしますが、何卒ご了承いただきますようお願い申し上げます。

休暇期間：2024年12月28日（土）～2024年1月5日（日）

2024年1月6日（月）から、通常通り営業いたします。

おすすめ情報

: <技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。

: <技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。

: <非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定

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