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渦電流位相式膜厚計 フェースコープ PMP10

(株)フィッシャー・インストルメンツ

最終更新日:2022/11/22

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  • 渦電流位相式膜厚計 フェースコープ PMP10
形状が複雑な部品や表面の粗い亜鉛、銅、ニッケルめっきの膜厚測定
【フェースコープ PMP10】は、レジスト膜の下にあるプリント基板上の銅の膜厚測定や、形状が複雑な部品や表面の粗い亜鉛、銅、ニッケルメッキを高精度に簡単に測定できる渦電流位相式膜厚計。従来のようにプローブ信号の振幅を計算するのではなく、信号の段階的な位相のずれを厚みに変換する方式。プリント基板の厚みの測定や非導電性部品の金属皮膜測定などに最適。特別に設計されたプローブを使用することで、PCBのスルホール内の測定も可能。お問い合わせはこちらへ。
    　　　　　　　　
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渦電流位相式膜厚計 フェースコープ PMP10
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ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.73MB【フェースコープ PMP10】は、レジスト膜の下にあるプリント基板上の銅の膜厚測定や、形状が複雑な部品や表面の粗い亜鉛、銅、ニッケルメッキを高精度に簡単に測定できる渦電流位相式膜厚計。従来のようにプローブ信号の振幅を計算するのではなく、信号の段階的な位相のズレを厚みに変換する方式。プリント基板の厚みの測定や非導電性部品の金属皮膜測定などに最適。特別に設計されたプローブを使用することで、PCBのスルホール内の測定も可能。

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