仕様
| 用途 | ■スチール上のニッケルメッキの膜厚測定 ■スチール上の亜鉛または銅の膜厚測定(粗い表面や複雑な表面形状でも測定が可能) ■真鍮または青銅上の銅など、導電率の差が十分にある場合には、非鉄金属上の非鉄金属の膜厚測定も可能 ■回路基板上の銅の皮膜など、絶縁基板上の非鉄金属の膜厚測定 |
|---|---|
製品カタログ・資料
- 渦電流位相式膜厚計 フェースコープ PMP10
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.73MB【フェースコープ PMP10】は、レジスト膜の下にあるプリント基板上の銅の膜厚測定や、形状が複雑な部品や表面の粗い亜鉛、銅、ニッケルメッキを高精度に簡単に測定できる渦電流位相式膜厚計。従来のようにプローブ信号の振幅を計算するのではなく、信号の段階的な位相のズレを厚みに変換する方式。プリント基板の厚みの測定や非導電性部品の金属皮膜測定などに最適。特別に設計されたプローブを使用することで、PCBのスルホール内の測定も可能。
関連製品カタログ・資料
会社情報
Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
(株)フィッシャー・インストルメンツ
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております
〒 340-0012 草加市神明1-9-16
https://www.helmutfischer.jp/詳細はこちら
