製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります

破壊式膜厚計 COULOSCOPE CMS2 STEP

(株)フィッシャー・インストルメンツ

最終更新日:2022/07/13

このページを印刷

電解式(電量分析式)のSTEPテストを採用

【COULOSCOPE CMS2 】は、DIN EN ISO2177およびASTM B764-04、DIN EN 16866に準拠したSTEPテストにより多層皮膜の電位差を測定する破壊式膜厚計。自動車産業におけるCrモールド(複層Ni)のようなコーティングした部品の検査などに最適。三脚を備えたポンプ制御装置により、測定セルの自動充填、排出を行う。大型のグラフィックディスプレイにより、操作および評価結果を表示が可能。お問い合わせはこちらへ。

工業計器│その他工業計器│

仕様

用途	自動車産業におけるCrモールド(複層Ni)のようなコーティングした部品の検査など

製品カタログ・資料

: 破壊式膜厚計 COULOSCOPE CMS2
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：1.87MB【COULOSCOPE CMS2】は、電解式(電量分析式)の破壊式膜厚計。鉄上の亜鉛や銅上のSn/Niなど単層あるいは多層皮膜の金属皮膜について電解式による膜厚を測定することができる。大型のグラフィックディスプレイによる操作および評価結果を表示。

関連製品カタログ・資料

会社情報

: Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております
(株)フィッシャー・インストルメンツ
〒 340-0012 草加市神明1-9-16

https://www.helmutfischer.jp/
詳細はこちら

製品ご紹介

破壊式膜厚計 COULOSCOPE CMS2 STEPのお問い合わせ

お問い合わせはこちら

アンケートご協力のお願い

企業ロゴ

新着製品情報

: 感雨計 HD2013.3(株)サカキコーポレーション

: 溶存CO₂計 InPro5500iメトラー・トレド(株)

: 超音波音圧計 BST02a株式会社ブルー・スターＲ＆Ｄ

: 音響パワーレベル計測システム O-Solution DS-5000(株)小野測器

: ABSデジマチックインジケータ ID-Fシリーズ(株)ミツトヨ

: レーザー桁たわみ計測システム Dポイント計測ネットサービス(株)

: 生産ライン組込み用大ひょう量計量センサ AD-4212Fシ…(株)エー・アンド・デイ

: 離型剤希釈倍率計 CANA-3040東京光電(株)

ランキング

: 超高感度濁度計 ITB-100株式会社イワキ

: ユニバーサルプロセスホルダ Ecofit CPA640エンドレスハウザージャパン(株)

: 雨量計 HD2013／HD2013R／R1(株)サカキコーポレーション

: 配電盤用計器角形計器PKシリーズ(株)日立産機システム

: Huba Contorol社製投げ込み式水位計 681シリーズ株式会社クローネ

: USB給電仕様 Wi-Fi温湿度・気圧測定ユニット WFS300データリンク(株)

: き裂進展モニタ CGM-7（交流電位差法）日本ハイコン(株)

: レーダー高度計 UMRR-0A(株)アムテックス

: 蛍光X線膜厚計 FT160シリーズ株式会社日立ハイテクサイエンス

: Panametrics レーザー式水分計 Aurora日本ベーカーヒューズ(株)＆ベーカーヒューズ・エナ…

関連キーワード

企業基本情報

社名：: (株)フィッシャー・インストルメンツ

住所：: 〒 340-0012
草加市神明1-9-16

Web：: https://www.helmutfischer.jp/

おすすめ情報

<技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。
<技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定