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瞬間位相シフトフィゾー干渉計 H2000

(株)清原光学

最終更新日:2017/03/22

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  • 瞬間位相シフトフィゾー干渉計 H2000
大・小光学部品や半導体ウエハなどに対応
【H2000】は、振動環境でも高精度な瞬間位相シフト測定を実現する瞬間位相シフトフィゾー干渉計。大・小光学部品、半導体ウエハ、過酷な環境下の機械にかけられた部品などに対応可能。データ取込みは同時位相シフト法で行い、干渉縞解析ソフトウエアとの連動により簡単な操作で測定できる。干渉縞分解能1024×768pixels。
    　　　　　　　　

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