蛍光X線式測定器 XDV-μ PCB
最終更新日:2022/07/13
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大型プリント回路基板の微細構造部分の測定用に設計されたモデル
【XDV-μ PCB】は、ポリキャピラリーレンズを搭載し、大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された高性能蛍光X線式測定装置。ポリキャピラリ―レンズ採用により、非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。お問い合わせはこちらへ。
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