蛍光X線式測定器 XDV-μ LD
最終更新日:2023/03/23
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ロングディスタンスタイプで段差のある実装された基板の測定に好適
【XDV-μ LD】は、ポリキャピラリーレンズを採用した蛍光X線式測定装置。約12mmのサンプルとの測定距離があるロングディスタンスタイプのため、段差のある実装された基板を非破壊で膜厚測定と素材分析が行える。マイクロフォーカスチューブとポリキャピラリレンズ搭載による微小部測定が可能。 プログラミング可能なXYステージにより自動測定を実現。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。お問い合わせはこちらへ。
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- 蛍光X線式測定器 XDV-μ LD
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