【カタログプレビュー】蛍光X線式測定器 XDV-μ LD
新型のXDV-μ LDは、ポリキャピラリーレンズを採用した蛍光X線式測定装置。新開発のデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載!従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献しています。
この蛍光X線式測定器は、約12mmのサンプルとの測定距離があるロングディスタンスタイプのため、段差のある実装された基板を非破壊で膜厚測定と素材分析が行える。マイクロフォーカスチューブとポリキャピラリレンズ搭載による微小部測定が可能。 プログラミング可能なXYステージにより自動測定を実現。
この蛍光X線式測定器は、約12mmのサンプルとの測定距離があるロングディスタンスタイプのため、段差のある実装された基板を非破壊で膜厚測定と素材分析が行える。マイクロフォーカスチューブとポリキャピラリレンズ搭載による微小部測定が可能。 プログラミング可能なXYステージにより自動測定を実現。