【DMPシリーズ】は、磁性および非磁性金属素地材上の皮膜を非破壊で膜厚測定が行える測定器。ハンディー型の電磁式膜厚計・渦電流式膜厚計・両用のデュアル式膜厚計のベーシックモデルとコンフォートモデルをラインナップ。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、幅広い分野で膜厚測定を可能…

【デュアルスコープ MP0Rシリーズ】は、電磁式、渦電流式ともに搭載したポケットサイズの超小型膜厚計。アルミや鉄、鋼材などの金属に表面処理された塗装、ラッカー、スプレー、亜鉛メッキ、クロムメッキといった皮膜の厚みを測定。プローブを一体化し取扱いを簡単にした操作性であり、非破壊式で非常に優れた繰返し精度を実現。防錆、ラッカー産業…

【FISCHERSCOPE MMS PC2】は、膜厚測定と材料試験を1台で測定することが可能で、品質管理が重視されるあらゆる分野で使用されているマルチ測定システム。高い汎用性を有し、多くの測定アプリケーションに応用できる。膜厚、伝導率、フェライト含有量などに関して、高精度で再現性の高い測定を提供。また8種類のモジュールボードで、プローブ交換する…

【XAN500】は、携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定および素材分析機器。シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な形状の測定にも対応。高精度で長期安定性が「FISCHERSCOPE X-RAYシステム」の大きな特長であり、キャリブレーションの頻度が少なく、時間と手…

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載…

SR-SCOPE® DMP30 は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができます。 堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に最適です。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護する…

膜厚測定器、素材分析器、材料試験器の販売・保守サービスなどを行う、同社の製品カタログ。製品ラインは、多様なアプリケーションとさまざまな業界を対象とした幅広い領域の測定・分析装置に及ぶ。最適の精度で正しい結果を得るために、それぞれにふさわしい測定方法を使用。電磁式または渦電流式、電解式、あるいは蛍光X線式など、いずれの方式に…

汎用性の高いエネルギー分散型蛍光X線測定装置「FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ」。 ユーザーフレンドリーな卓上型で、高精度なプログラマブルXYステージと、モーター駆動のZ軸を装備。 薄膜の厚さ測定や複雑な多層コーティングの分析・膜厚測定などが可能。 自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ…

【XDV-μ PCB】は、ポリキャピラリーレンズを搭載し、大型プリント回路基板と部品の微細構造部分の素材分析および膜厚測定に特別設計された高性能蛍光X線式測定装置。ポリキャピラリ―レンズ採用により、非常に小さな測定スポットにおいても大きな励起強度を得ることが可能。

GOLDSCOPE SD® 510は、貴金属の非破壊検査用に開発された蛍光X線分析器です。この製品は、ハードウェアおよびソフトウェアがジュエリーや金などの検査要件に適合したモデルです。 貴金属の分析において、重要な機能に絞ったスペックとなっており、高精度かつ高品質な分析装置でありながら、コストパフォーマンスに優れたモデルとなっています。装置…

FERITSCOPE DMP30は、オーステナイト鋼と二相ステンレス鋼のフェイライトの組織量を磁気誘導方式により測定します。すべての磁性構造体部分、例えば、デルタ・フェライトや変態マルテンサイトをはじめ、他のフェライト相も測定できます。 磁気誘導法によるBasler-StandardとDIN EN ISO17655に準拠したフェライト組織量の測定ができる測定器です。

【COULOSCOPE CMS2】は、電解式(電量分析式)の破壊式膜厚計。鉄上の亜鉛や銅上のSn/Niなど単層あるいは多層皮膜の金属皮膜について電解式による膜厚を測定することができる。大型のグラフィックディスプレイによる操作および評価結果を表示。

【XDV -µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。

【X-RAY 5000シリーズ】は、大面積の測定エリアを持つ、生産プロセスで連続的なインライン測定および分析ができる蛍光X線測定装置。大面積の測定エリアを持つため、プライマリーフィルタやコリメータの自動交換システム、画像認証システムがない構成となっている。

【XDL230】は、比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器。使いやすい卓上型で、さまざまなXYステージのラインナップを取り揃えている。ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状サンプルも測定可能。

【FISCHERSCOPE MMS Automation】は、膜厚測定および導電率測定のインライン測定システム。測定器本体に最大4つの同じタイプのプローブを接続して、同時に測定することが可能。さまざまな膜厚測定方式のモジュールおよび導電率測定のモジュールを最大4つ搭載できる。最大30m長ケーブルまで対応。測定器本体を制御盤のDINレールに取り付け可能。

【PHASCOPE PMP10 DUPLEX】は、電磁式・渦電流式・渦電流位相式の3方式の膜厚計。一回の測定工程で鋼を下地とする複合皮膜(塗膜／亜鉛メッキ皮膜)を同時測定することができる。自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定が行える。

【MP0R-FPシリーズ】は、必要に応じて安価なモジュールを取り付けることにより、測定対象物を拡大できる、経済的なプローブタイプの超小型膜厚計。長さ80cmのプローブにより、極小部品や測定しにくい曲面部品の膜厚も容易に測定可能。デュアルスコープ(電磁＋渦電流方式)、パーマスコープ(電磁方式)の2種類を用意。

【パーマスコープ MP0Rシリーズ】は、ポケットサイズの超小型の電磁式膜厚計。鉄や鋼材といった磁性金属上に表面処理された塗装、ラッカー、スプレー、亜鉛メッキ、クロムメッキといった非磁性皮膜の厚みを迅速かつ簡単に測定できる非破壊式の膜厚計。プローブを一体化したことにより取扱いが容易で、片手で操作が可能。防錆、ラッカー産業、造船産…

【DUALSCOPE FMP100】は、電磁・渦電流方式2種類の測定原理を併せ持つ膜厚測定器。PCをベースとする研究機器のフレキシビリティと能力をコンパクトボディに収納し、明るいカラー液晶ディスプレイとタッチパネルにより操作は容易。高精度なプローブと正確な評価・統計機能を兼備し、生産現場から研究開発分野まであらゆる環境に対応。