(株)フィッシャー・インストルメンツのカタログ・資料一覧
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電磁式・渦電流式膜厚計用のプローブ代表例
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ファイルサイズ:0.85 MB特注を含め100種類を超える多数のプローブで、様々な測定アプリケーションのニーズに対応。電磁式・渦電流式のいずれかの方式専用プローブ・電磁式と渦電流式の両方式共用プローブ・渦電流位相式プローブ・厚膜向けホール効果磁気式プローブ・曲率補正・電導率補正・温度補償付など様々取り揃えている。 -
会社案内
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ファイルサイズ:1.45 MB事業概要などについて紹介。 -
放電式ピンホール測定器 POROSCOPE HV40
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ファイルサイズ:0.37 MB【POROSCOPE HV40】は、ISO2746およびEN 55011に準拠した電圧による金属またはコンクリートを下地とする非導電性の保護皮膜の孔やピンホールを検出できる検査装置。各種用途向けのさまざまな電極テストヘッドを装着可能。 -
微小硬さ試験機 PICODENTOR HM500
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ファイルサイズ:1.96 MB【PICODENTOR HM500】は、ナノレンジの多層コーティング・微細構造物・メッキ断面などの硬さ測定ができる最上位モデルとなる微小硬さ試験機。プログラミング可能なXYステージ、電動Z軸、高倍率顕微鏡カメラを搭載し、微小部の硬さ測定も容易に行える。サンプルの前処理無しでほとんどのサンプルを素早く測定できる。 -
破壊式膜厚計 COULOSCOPE CMS2
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ファイルサイズ:1.81 MB【COULOSCOPE CMS2】は、電解式(電量分析式)の破壊式膜厚計。鉄上の亜鉛や銅上のSn/Niなど単層あるいは多層皮膜の金属皮膜について電解式による膜厚を測定することができる。大型のグラフィックディスプレイによる操作および評価結果を表示。 -
微小硬さ試験機 FISCHERSCOPE HM2000
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ファイルサイズ:0.67 MB【FISCHERSCOPE HM2000】は、マイクロレンジの微小硬さ試験機。ISO14577準拠の微小硬さ試験および材料パラメータ測定のためのコンピュータ制御の測定システムを採用。高精度なプログラミングXYステージにより、小さい構造体でも±0.5μm(オプション)の位置決め精度で測定できる。防風チャンバとアクティブ除振台を使用して最大級の除振効果(オプション… -
蛍光X線式測定器の自動化システム XDV-µ SEMI
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ファイルサイズ:2.19 MB【XDV -µ SEMI】は、微小構造のウェハー測定に特別設計された完全自動化の蛍光X線測定システム。FOUPやSEMI規格のウェハー格納用ポッドのロードポートが利用可能なため、ウェハーの出し入れや測定が完全自動で実行できる。 -
蛍光X線式測定器の自動化システム X-RAY 5000シリーズ
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ファイルサイズ:1.26 MB【X-RAY 5000シリーズ】は、大面積の測定エリアを持つ、生産プロセスで連続的なインライン測定および分析ができる蛍光X線測定装置。大面積の測定エリアを持つため、プライマリーフィルタやコリメータの自動交換システム、画像認証システムがない構成となっている。 -
蛍光X線式測定器 XDLシリーズ
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ファイルサイズ:0.27 MB【XDLシリーズ】は、比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器。使いやすい卓上型で、さまざまなXYステージのラインナップを取り揃えている。ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状サンプルも測定可能。プログラマブルXYステージ付きのモデルで、自動連続測定が行える(XDL 240)。膜厚・導電率測定の自動測定システム FISCHERSCOPE MMS Automation
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ファイルサイズ:1.92 MB【FISCHERSCOPE MMS Automation】は、膜厚測定および導電率測定のインライン測定システム。測定器本体に最大4つの同じタイプのプローブを接続して、同時に測定することが可能。さまざまな膜厚測定方式のモジュールおよび導電率測定のモジュールを最大4つ搭載できる。最大30m長ケーブルまで対応。測定器本体を制御盤のDINレールに取り付け可能。膜厚計 PHASCOPE PMP10 DUPLEX
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ファイルサイズ:1.9 MB【PHASCOPE PMP10 DUPLEX】は、電磁式・渦電流式・渦電流位相式の3方式の膜厚計。一回の測定工程で鋼を下地とする複合皮膜(塗膜/亜鉛メッキ皮膜)を同時測定することができる。自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定が行える。技術資料 膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理
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ファイルサイズ:2.38 MB本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。超小型膜厚計 MP0R-FPシリーズ
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ファイルサイズ:1.88 MB【MP0R-FPシリーズ】は、必要に応じて安価なモジュールを取り付けることにより、測定対象物を拡大できる、経済的なプローブタイプの超小型膜厚計。長さ80cmのプローブにより、極小部品や測定しにくい曲面部品の膜厚も容易に測定可能。デュアルスコープ(電磁+渦電流方式)、パーマスコープ(電磁方式)の2種類を用意。ハンドヘルド型蛍光X線式測定器 XAN500
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ファイルサイズ:0.54 MB【XAN500】は、携帯可能な蛍光X線式の膜厚測定および素材分析機器。シリコンドリフト検出器搭載により、高精度かつ高い検出感度を実現。品質管理、受け入れ検査、工程管理に適した装置で、小型部品や複雑な形状の測定にも対応。高精度で長期安定性が「FISCHERSCOPE X-RAYシステム」の大きな特長であり、キャリブレーションの頻度が少なく、時間と手…電磁式膜厚計 パーマスコープ MP0Rシリーズ
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ファイルサイズ:0.38 MB【パーマスコープ MP0Rシリーズ】は、ポケットサイズの超小型の電磁式膜厚計。鉄や鋼材といった磁性金属上に表面処理された塗装、ラッカー、スプレー、亜鉛メッキ、クロムメッキといった非磁性皮膜の厚みを迅速かつ簡単に測定できる非破壊式の膜厚計。プローブを一体化したことにより取扱いが容易で、片手で操作が可能。防錆、ラッカー産業、造船産…電磁式/渦電流式両用膜厚計 デュアルスコープ MP0Rシリーズ
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ファイルサイズ:1.88 MB【デュアルスコープ MP0Rシリーズ】は、電磁式、渦電流式ともに搭載したポケットサイズの超小型膜厚計。アルミや鉄、鋼材などの金属に表面処理された塗装、ラッカー、スプレー、亜鉛メッキ、クロムメッキといった皮膜の厚みを測定。プローブを一体化し取扱いを簡単にした操作性であり、非破壊式で非常に優れた繰返し精度を実現。防錆、ラッカー産業…電磁・渦電流方式膜厚測定器 DUALSCOPE FMP100
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ファイルサイズ:3.54 MB【DUALSCOPE FMP100】は、電磁・過電流方式2種類の測定原理を併せ持つ膜厚測定器。PCをベースとする研究機器のフレキシビリティと能力をコンパクトボディに収納し、明るいカラー液晶ディスプレイとタッチパネルにより操作は容易。高精度なプローブと正確な評価・統計機能を兼備し、生産現場から研究開発分野まであらゆる環境に対応。真偽判定測定器 SIGMASCOPE GOLD B
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ファイルサイズ:0.27 MB【SIGMASCOPE GOLD B】は、非破壊で金インゴットや金貨が純金であるかを真偽判定する測定器。厚みが約18mmまでの金インゴットに対応し、保護フィルムの上からも測定が行える。測定値記録:256MB(アプリケーションと測定値)、電源:単3電池×4本・ACアダプタ(100~240V)。導電率計 SIGMASCOPE SMP350
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ファイルサイズ:0.68 MB【SIGMASCOPE SMP350】は、渦電流位相式(DIN EN 2004-1およびASTM E 1004に準拠)による導電率の非接触測定が行える導電率計。厚さ:500µmまでのペイントやプラスチック皮膜を通して、その下の非鉄金属の導電率測定が可能。測定方法:渦電流位相式、測定値記録 :256MB(アプリケーションと測定値)、電源:単3電池×4本・ACアダプタ(100~240V)。蛍光X線方式膜厚測定器 XULMシリーズ
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ファイルサイズ:0.18 MB【XULMシリーズ】は、測定チャンバの下にX線源と検出器を配置し、測定物を迅速・簡単かつ直接ポジショニングできる蛍光X線方式膜厚測定器。量産品の測定用に設計されており、コンパクトサイズでありながら大きなサンプルを測ることもできる。35件中 1-20件 1ページ目を表示
最新展示会・セミナー情報
- 【バーチャル展示会】ITmedia Virtual EXPO 2021 春
日本ストラタステクノロジー株式会社 - 会場:オンライン展示会
- 【無料Webセミナー】 事例付き!CASE時代の新型車載センサ開発に役立つ非…
ポリテックジャパン(株) - 会場:オンライン
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エンドレスハウザー ジャパン(株) - 会場:WEB上のオンライン展示です
- 【高圧ガス基礎コース】1日で基礎を学ぶ「配管基礎1日セミナー: 高圧ガス…
スウェージロック・ジャパン - 会場:スウェージロック・ジャパン東日本サービス・センター(横浜)
- ITmedia Virtual EXPO 2021 春
(株)ネクスコム・ジャパン - 会場:ITmedia Virtual EXPO オフィシャルサイト https://ve.itmedia.co.jp/em
最新ニュースリリース
- 7年連続で「世界で最も倫理的な企業」に選出タイコ エレクトロニクス ジャパン(同)
- 全方位に対して保護等級IP67に対応した堅牢なプ…TURCK Japan(タークジャパン)(株)
- 【カタログ紹介】2021年CKD技報 発刊しました。CKD株式会社
- IT/OTエンジニアの垣根を越え、オープンで新し…フエニックス・コンタクト(株)
- 新版・グループ形状のツリー表示・編集機能を強…アンドール(株)
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おすすめ情報
<微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-μ>
【XDV-μ】プリント回路基板、コンタクトピン、リードフレームなどの非常に小さく平らな部品や構造部分を測定
最小径:10μmの集光レンズ(ポリキャピラリーレンズ)搭載と、検出器に、半導体検出器の中でも最高性能クラスとなるSDD(シリコンドリフトディテクタ―)採用により、微小部のメッキ膜厚を短時間で高精度に測定できる微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器。従来は測定できなかった微小部の薄膜メッキ、基板の微小パッドなども高精度に測定。また、集光レンズによりX線照射時のエネルギーロスが限りなく小さく、従来では難しかった厚付けスズメッキの下にあるニッケルメッキの膜厚測定にも対応。プリント基板やコネクタの小型化、薄膜化を実現する。