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【カタログプレビュー】微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-μ

汎用性の高いエネルギー分散型蛍光X線測定装置「FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ」。
ユーザーフレンドリーな卓上型で、高精度なプログラマブルXYステージと、モーター駆動のZ軸を装備。
薄膜の厚さ測定や複雑な多層コーティングの分析・膜厚測定などが可能。
自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。
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企業基本情報

社名:
(株)フィッシャー・インストルメンツ
住所:
〒 340-0012
埼玉県 草加市神明1-9-16
Web:
https://www.helmutfischer.jp/

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    ■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定