製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります
すべてのカテゴリー
  1. トップ
  2. 企業情報
  3. (株)フィッシャー・インストルメンツ
  4. カタログ・資料
  5. 微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-μ

【カタログプレビュー】微小部測定用蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-μ

<ログインしてこのカタログをダウンロードする（無料）>
汎用性の高いエネルギー分散型蛍光X線測定装置「FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ」。
ユーザーフレンドリーな卓上型で、高精度なプログラマブルXYステージと、モーター駆動のZ軸を装備。
薄膜の厚さ測定や複雑な多層コーティングの分析・膜厚測定などが可能。
自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。
発行元：(株)フィッシャー・インストルメンツ
<ログインしてこのカタログをダウンロードする（無料）>
最新展示会情報をもっと見る>>

最新ニュースリリースもっとみる

工具管理システム WinTool(ウィンツール)、Tebis(テビス)とのインタフェースを更新
工具管理システム WinTool(ウィンツール)、Tebi…株式会社TKホールディングス
FARO、ポータブル3次元測定器の新エディションをリリース – FARO Quantum X 新シリーズが精度を向上し、ユーザーの信頼性を強化
FARO、ポータブル3次元測定器の新エディション…ファロージャパン株式会社
新製品「ファブリック・アライメント・ステーション」でファッション3Dプリンタに精度と効率をもたらす新たなステージへ
新製品「ファブリック・アライメント・ステーシ…(株)ストラタシス・ジャパン
Forcepoint、包括的なGenAI Securityを発表
Forcepoint、包括的なGenAI Securityを発表フォースポイント・ジャパン(株)
高周波アプリケーション向けIX4341およびIX4342デュアル5アンペアローサイドMOSFETゲートドライバを発売
高周波アプリケーション向けIX4341およびIX4342…Littelfuseジャパン合同会社
ニュースリリース情報をもっと見る>>
企業ロゴ

企業基本情報

社名：
(株)フィッシャー・インストルメンツ
住所：
〒 340-0012
埼玉県 草加市神明1-9-16
Web：
https://www.helmutfischer.jp/

おすすめ情報

  • <技術資料 膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

    本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。

  • <技術資料 膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと>

    【膜厚計の基礎知識 膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。

  • <非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

    【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
    ■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定