膜厚計 DMPシリーズ | カタログ・資料 | (株)フィッシャー・インストルメンツ

【カタログプレビュー】膜厚計 DMPシリーズ

【DMPシリーズ】は、磁性および非磁性金属素地材上の皮膜を非破壊で膜厚測定が行える測定器。ハンディー型の電磁式膜厚計・渦電流式膜厚計・両用のデュアル式膜厚計のベーシックモデルとコンフォートモデルをラインナップ。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、幅広い分野で膜厚測定を可能とする。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレイを搭載した頑丈な筐体を採用。また、光・音・振動による上下限値設定時のフィードバック通知機能、交換可能なリチウムイオンバッテリー、USBまたはBluetoothによるPC通信を可能としてデータ転送や測定値評価など、数多くの機能を搭載。

発行元：(株)フィッシャー・インストルメンツ

<ログインしてこのカタログをダウンロードする（無料）>

おすすめ情報

<技術資料膜厚計の基礎知識・膜厚測定の原理>

本資料は、膜厚計の選定に役立つ技術資料。膜厚測定の原理を知り、測定物に合わせた正しい測定方式を選択することができる。電磁式膜厚計(電磁誘導式膜厚計)、渦電流式膜厚計(渦電流振幅感応式)、渦電流位相式膜厚計(渦電流位相変位感応式)、蛍光X線式膜厚計・素材分析(蛍光X線スペクトル分析法)、電気抵抗式膜厚計、磁気式膜厚計(ホール効果)を掲載。
<技術資料膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと>

【膜厚計の基礎知識膜厚測定で知っておくべきこと】は、電磁式・渦電流式の膜厚計で測定する際、正しく測定できるように、影響を及ぼす重要な要素をまとめた資料。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>

【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定

【カタログプレビュー】膜厚計 DMPシリーズ

最新展示会・セミナー情報もっとみる

最新ニュースリリースもっとみる

最新トピックス情報

企業基本情報

関連キーワード

おすすめ情報