【カタログプレビュー】技術資料 膜厚測定早見表
本資料は、膜厚測定したい下地材と皮膜の組み合わせから測定できる測定方式を確認できる一覧表。同社が測定可能な下地材と皮膜の組み合わせを示し、その組み合わせの膜厚の測定方式をわかりやすくまとめている。下地は、アルミ、ガラス、タングステン、コバール、銅、マグネシウム、ニッケル、鉄ほか。皮膜は、アルミニウム、鉛、クロム、アルマイト、プラスチック、金、カドミウム、銅ほか。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定