蛍光X線式測定器 XDV-SDD

用途	■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など) ■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など) ■NiPの組成分析、厚さ測定
寸法	660×835×720mm(幅×奥行×高さ)

用途

■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)
■NiPの組成分析、厚さ測定

寸法

660×835×720mm(幅×奥行×高さ)

その他の情報

特長
・シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用
・プログラミング可能なXYステージを装備
・大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)
・自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、優れたエネルギー分解能と短時間測定に貢献します。

測定元素範囲:Al(13)～U(92)
X線検出器:シリコンドリフト検出器(SDD)
X線管球:マイクロフォーカスチューブ
プライマリフィルター:6種類
コリメーター数/サイズ:4種/Φ0.1mm～Φ3mm
消費電力:最大120W

製品カタログ・資料

蛍光X線式測定器 XDV-SDD

ファイル形式：pdf ファイルサイズ：1.08MB【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。

会社情報

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツ
〒 340-0012 草加市神明1-9-16

https://www.helmutfischer.jp/

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