【カタログプレビュー】膜厚計 PHASCOPE PMP10 DUPLEX
【PHASCOPE PMP10 DUPLEX】は、電磁式・渦電流式・渦電流位相式の3方式の膜厚計。一回の測定工程で鋼を下地とする複合皮膜(塗膜/亜鉛メッキ皮膜)を同時測定することができる。自動検知機能によりアルミ板上の塗装膜厚測定もプローブ変更なく測定が行える。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定