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蛍光X線方式膜厚測定器 XDLM237

(株)フィッシャー・インストルメンツ

最終更新日:2022/07/13

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  • 蛍光X線方式膜厚測定器 XDLM237
検体の形状が複雑な場合でもX線の下で測定部位を簡単に位置決め
【XDLM237】は、膜厚測定と材料分析を行う蛍光X線方式膜厚測定器。自動コリメーターブロックと、4つの異なった大きさのコリメーターとマイクロフォーカスチューブで構成され、大量生産プロダクト(ネジ、ナット、ボルトなど)のテスト用。一般メッキからハイテク・エレクトロニクスまで対応。測定方向は上・下からともに行い、複雑な幾何学構造の物や異なった測定距離の測定物でも簡単に測定できる。測定ヘッドには、基準操作エレメントの付いた盤を設置。50KVまでの高圧を段階的に設定可能。コリメータは、0.05×0.05mm~Φ0.2mmの4種類を標準装備。高解像度の工学系を備えたモノクロ/カラーカメラを通じて、測定対象物を観察する。DCM法によって高低差85mm以内で焦点合わせを変えられる。測定画像用のモニタやアプリケーションソフトウェアを備えた外部PCを使用可能。オプションのコバルトアブソーバーは銅上のニッケル測定に有効。お問い合わせはこちらへ。

製品カタログ・資料

蛍光X線方式膜厚測定器 XDLM237
蛍光X線方式膜厚測定器 XDLM237

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:1.28MB【XDLM237】は、膜厚測定と材料分析を行う蛍光X線方式膜厚測定器。自動コリメーターブロックと、4つの異なった大きさのコリメーターとマイクロフォーカスチューブで構成され、大量生産プロダクト(ネジ、ナット、ボルトなど)のテスト用。一般メッキからハイテク・エレクトロニクスまで対応。測定方向は上・下からともに行い、複雑な幾何学構造の物や異なった測定距離の測定物でも簡単に測定できる。測定ヘッドには、基準操作エレメントの付いた盤を設置。50KVまでの高圧を段階的に設定可能。コリメータは、0.05×0.05mm~Φ0.2mmの4種類を標準装備。高解像度の工学系を備えたモノクロ/カラーカメラを通じて、測定対象物を観察する。DCM法によって高低差85mm以内で焦点合わせを変えられる。測定画像用のモニタやアプリケーションソフトウェアを備えた外部PCを使用可能。オプションのコバルトアブソーバーは銅上のニッケル測定に有効。

会社情報

(株)フィッシャー・インストルメンツ

Helmut Fischerは70年にわたり、膜厚測定、素材分析、微小硬さ試験、材料試験の分野において革新的な測定技術を開発してきました。
製品ラインアップには、極めて多様な用途や産業向けの測定・分析機器を幅広くカバーし、それぞれの用途に応じて最適な測定方式を用いて精度の高い結果をもたらします。電磁式、渦電流式、ベータ線後方散乱式、電解式、微小硬さあるいは蛍光X線式などいずれの測定方式においても豊富な技術と経験を持ち、あらゆるソリューションを提供してきております

(株)フィッシャー・インストルメンツ
〒 340-0012  草加市神明1-9-16

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企業基本情報

社名:
(株)フィッシャー・インストルメンツ
住所:
〒 340-0012
草加市神明1-9-16
Web:
https://www.helmutfischer.jp/

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