蛍光X線方式膜厚測定器 XDLM237

製品カタログ・資料

蛍光X線方式膜厚測定器 XDLM237

ファイル形式：pdf ファイルサイズ：4.32MB【XDLM237】は、膜厚測定と材料分析を行う蛍光X線方式膜厚測定器。自動コリメーターブロックと、4つの異なった大きさのコリメーターとマイクロフォーカスチューブで構成され、大量生産プロダクト(ネジ、ナット、ボルトなど)のテスト用。一般メッキからハイテク・エレクトロニクスまで対応。測定方向は上・下からともに行い、複雑な幾何学構造の物や異なった測定距離の測定物でも簡単に測定できる。測定ヘッドには、基準操作エレメントの付いた盤を設置。50KVまでの高圧を段階的に設定可能。コリメータは、0.05×0.05mm～Φ0.2mmの4種類を標準装備。高解像度の工学系を備えたモノクロ/カラーカメラを通じて、測定対象物を観察する。DCM法によって高低差85mm以内で焦点合わせを変えられる。測定画像用のモニタやアプリケーションソフトウェアを備えた外部PCを使用可能。オプションのコバルトアブソーバーは銅上のニッケル測定に有効。