【カタログプレビュー】渦電流位相式膜厚計 フェースコープ PMP10
【フェースコープ PMP10】は、レジスト膜の下にあるプリント基板上の銅の膜厚測定や、形状が複雑な部品や表面の粗い亜鉛、銅、ニッケルメッキを高精度に簡単に測定できる渦電流位相式膜厚計。従来のようにプローブ信号の振幅を計算するのではなく、信号の段階的な位相のズレを厚みに変換する方式。プリント基板の厚みの測定や非導電性部品の金属皮膜測定などに最適。特別に設計されたプローブを使用することで、PCBのスルホール内の測定も可能。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定