ICテスタ/ICハンドラ

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  イメージセンサ用テストソケット

  日本コネクト工業(株)

  本製品は、多様化するCCD、CMOSセンサに対応したテストソケット。ソケット上面を開口…

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  ICテストソケット製作

  テスプロ(株)

  テスプロでは、半導体デバイスやモジュール用のICテストソケットをカスタムにて製作…

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  ICタグ・ICカード検査装置 T8200

  株式会社テストラム

  【T8200】は、量産向けICタグ・ICカードのアンテナ共振周波数とQ値を測定する検査装…

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  ダイ・レベル・ハンドラ HA1000

  (株)アドバンテスト

  【HA1000】は、パッケージする前の個片ダイをテスト・システムに高い精度で搬送でき…

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  アナログICテスタ AITS-200

  株式会社シキノハイテック

  【AITS-200】は、DCテスト、ACテストのいずれにも適用可能なパーピン方式のICテスタ…

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  DRAMフィクスチャー CESタイプ

  (有)シーピーアイ

  【CES(Conductive Elastomeric Socket)】は、Pogo-pinと異なりICボールの損傷がないD…

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  接触型ICカード検査発行装置 T8000

  株式会社テストラム

  【T8000】は、接触型ICカードのDC測定を自動測定し、コマンドファイルによるデータエ…

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  メモリ・テスト・システム T5833

  (株)アドバンテスト

  【T5833】は、モバイルDRAMとNANDフラッシュ・メモリ双方の試験に対応できるメモリ・…

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  次世代メモリIC向けテスト・ハンドラ M6245

  (株)アドバンテスト

  【M6245】は、Visual Alignment機能を搭載しており、ボールピッチ0.3mm以下のファイ…

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  ディスプレイ・ドライバIC向けテスト・システム T6391

  (株)アドバンテスト

  【T6391】は、スマートフォンやテレビなど、さまざまな電気製品に使用される次世代の…

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  SSD開発向けテスト・システム MPT3000ES

  (株)アドバンテスト

  【MPT3000ES】は、SSD(ソリッド・ステート・ドライブ)テスト・システム「MPT3000」の…

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  メモリ・テスト・システム T5831

  (株)アドバンテスト

  【T5831】は、モバイル機器で使用される次世代NANDフラッシュメモリやNANDベースMCP…

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  メモリ・テスト・システム T5511

  (株)アドバンテスト

  【T5511】は、業界最高クラスの試験速度8Gbpsと、タイミング精度±40psに対応したメモ…

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  メモリ・テスト・システム T5811

  (株)アドバンテスト

  【T5811】は、SDRAMメモリのコア試験に特化したメモリ・テスト・システム。独自のBOS…