【カタログプレビュー】粒子計測やX線分析のリーティングカンパニー【マルバーン・パナリティカル】の総合カタログ

【工業分野用粒子計測機器】
●粒子径
原材料、中間品、完成品のパフォーマンスを最適化するた
めに不可欠です。
●ゼータ電位
さまざまな分散システムの安定性を評価するために重要で
す。
◆粒子計測 掲載製品一例◆
■レーザー回折式粒度分布測定装置
■粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
■粒子径・分子量測定装置
■フロー式粒子像分析装置
■粒子画像分析装置
■オンライン・インラインレーザー回折式粒度分布測定機
◆X線分析装置 掲載製品一例◆
■卓上型・EDX Epsilon(イプシロン)シリーズ
■蛍光X線分析装置 Zetium(ゼティウム)
■卓上型粉末X線解析装置 Aeris(エアリス)
■多目的X線解析装置 Empyrean(エンピリアン)
■X線分析用試料前処理装置 CLAISSE(クレイス)
●粒子径
原材料、中間品、完成品のパフォーマンスを最適化するた
めに不可欠です。
●ゼータ電位
さまざまな分散システムの安定性を評価するために重要で
す。
◆粒子計測 掲載製品一例◆
■レーザー回折式粒度分布測定装置
■粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
■粒子径・分子量測定装置
■フロー式粒子像分析装置
■粒子画像分析装置
■オンライン・インラインレーザー回折式粒度分布測定機
◆X線分析装置 掲載製品一例◆
■卓上型・EDX Epsilon(イプシロン)シリーズ
■蛍光X線分析装置 Zetium(ゼティウム)
■卓上型粉末X線解析装置 Aeris(エアリス)
■多目的X線解析装置 Empyrean(エンピリアン)
■X線分析用試料前処理装置 CLAISSE(クレイス)