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【カタログプレビュー】【アプリケーション事例】放射EMI(エミッション)簡易測定システム

300MHz~3GHzまでのEMI(エミッション)の簡易的な相対比較測定に最適

一般的にEMI(エミッション)の測定において、電波暗室を使用した正式試験では多くの時間と費用を要します。
当システムは正式試験を行う前の事前評価またはデバッグ用途として、相対的な評価を行うことができます。
近傍界での測定である為、電波暗室との相関は必ずしも『= イコール』とは難しいですが、ノイズ対策を行った際に対策が充分であるかの目安(対策前と対策後での相対評価)としてご使用頂けます。
また、専用のソフトウェア(MAS430)を使用することで、ピーク測定は当然ながらQP(準尖塔)値の測定も可能となります。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業基本情報

社名:
マイクロニクス株式会社
住所:
〒 193-0934
東京都 八王子市小比企町2987-2
Web:
https://micronix-jp.com/
TEL:
042-637-3667