SWIRイメージング用に最適化された設計
電子基板検査、監視、短波長赤外分光、偽造防止、工程品質管理等
様々なアプリケーションに使用できるレンズ

波長900～2500nmまで色収差を補正したレンズ
ARコーティングで全波長範囲において透過率が72%以上
Cマウント2/3型カメラにも対応。ディストーションが0.2%以下に抑えた設計