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【終了】OPIE'25（レーザーEXPO）

開催期間：2025年04月23日 10:00 〜 2025年04月25日 17:00

URL：https://www.opie.jp/

会場：パシフィコ横浜
小間番号：B-32

レーザに関連した光学部品・デバイス、光の特性を利用した計測・測定器、レーザ加工用製品等、30種類以上の製品を展示いたします。

■高性能 2Dガルバノスキャナ（RAYLASE社製）
■高速レーザオートフォーカス（WDI社製）
■フェムト秒ファイバレーザ（Fluence社製）
■高輝度半導体レーザ（Lumics社製）
■高出力レーザ伝送ファイバケーブル（COHERENT｜OPTOSKAND社製）
■レーザ用保護メガネ（LASERVISION社製）
■位置フィードバック付き 2 軸スキャンミラー（Optotune社製）
■高精度非球面レンズ（Asphericon社製）
■非球面ビームチューニングシリーズ（Asphericon社製）
■オプティクス用クリーナ
■colorPol® ポラライザ（CODIXX社製）
■AO変調器(AOM)、AO Qスイッチ（G&H社製）
■パッシブ光学コンポーネント（AFR社製）
■光ファイバ（COHERENT | NUFERN 社製）
■光コネクタ端面検査機
■ビーム安定化システム（MRC社製）
■レーザビームプロファイラー（DataRay社製）
■マルチ計測デバイス（Liquid Instruments社製）
■CFRP製ブレッドボード（CarbonVision社製）
■DCP LED テストステーション　(分光放射計BTS2048)
■蛍光顕微鏡用LED光源（EXCELITAS Technologies社製）
■複屈折,偏光,位相解析/測定システム（AXOMETRICS社製）
■リアルタイム・複屈折イメージング（ilis社製）
■レーザマイクロホン / ハイドロホン（XARION社製）
■エアベアリングステージ（Eitzenberger社製）
■高精度レーザ干渉計・精密ポジショニング計測システム（SIOS社製）
■高性能 / 高分解能波面センサ（Phasics社製）
■超小型・精密ピエゾアクチュエータ（CEDRAT Technologies社製）
■高精度・3D表面形状測定システム（WYSE light社製）