アンリツ株式会社は、マルチチャネル光モジュール[※1]を効果的に評価できる測定器として、BERTWave MP2100Bを開発。MP2100Aの後継機種として9月24日から販売を開始いたしました。

今回開発したBERTWave MP2100Bは、BER測定[※2]とアイパターン解析[※3]を同時に測定できる測定器です。光通信システムで使用される光モジュールや光デバイス[※4]の評価で必須の測定項目を、MP2100B 1台で実現できます。従来、BER試験とアイパターン解析を実施する場合、2台の測定器が必要でした。MP2100Bはこれらの評価を1台で実現できるため、測定器設備投資金額を約40%削減できます。さらに、この度新たに光スイッチおよび光減衰器を応用部品として追加しました。これにより、アンリツはマルチチャネル光モジュールや光デバイスの評価をトータルソリューションとしてサポートします。

また、光モジュールおよび光デバイスの製造市場で要求される測定速度の高速化を図るため、アイマスク試験[※5]などのアイパターン解析時間を従来機種と比較して1.5倍高速化し、最大で150 k sample/sのサンプリング速度を実現しました。さらに、MP2100BはBERT (Bit Error Rate Tester)のチャネル数を最大で4chまで拡張することができます。これにより、QSFP+などのマルチチャネル光モジュールのBER測定を4chまで同時に実施でき、測定時間を従来機種と比較して最大約80%短縮することができます。

MP2100Bは、測定器設備投資額の抑制、測定時間の短縮化による光モジュールや光デバイス製造コストの削減に大きく貢献します。

[※1] 光モジュール
TOSA/ROSA、VCSELなどの光デバイスをSFPやQSFPなどの送受一体型のトランシーバとして内蔵したもの。

[※2] BER測定
ビット誤り率。受信されたデジタル・データのビット列の中に含まれる、誤ったビットの比率。

[※3] アイパターン解析
周期的な信号波形を加算することでアイパターン波形の解析をおこなうこと。表示された信号波形が目のように見えることからアイパターンと呼ばれる。

[※4] 光デバイス
光信号を電気信号に変換あるいは、電気信号を光信号に変換するデバイス。

[※5] アイマスク試験
アイパターン解析の一種。アイパターンが、各規格で要求されるマスクに準拠しているかを確認する試験。

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