計測用CTシステム MCT225
最終更新日:2014/02/01
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多様なサイズ・材質のサンプルに対応
【MCT225】は、最新の産業標準に準拠した多様なサイズや材質のサンプルに対応できる計測用CTシステム。参照測定が不要で、内部・外部寸法を非破壊で効率よく計測できる。高倍率および高い分解能を実現し、パワフルなX線源と大型サンプル対応マニュピュレータとの組み合わせにより広範なアプリケーションに対応可能。複雑な部品や組立品の内部および外部のあらゆる幾何学寸法を、一連の非破壊プロセスで測定・解析。プラスチック射出成型や金属鋳造の分野では、型作成時の補正サイクルを50％削減可能。縮み、変形、寸法エラーを正確に検出し、見やすい測定レポートにまとめる。鋳造パラメータの最適化作業を数日に短縮でき、新製品や新デザインの発売を加速化する。
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