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化合物半導体デバイス寿命試験機

(株)アムテックス

最終更新日:2019/08/06

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1台でRF／DC／温度を同時に試験可能

本装置は、RF／DC／温度を同時に自在に試験可能な化合物半導体デバイス寿命試験機。RFとDCを4～32チャンネル搭載し、GaN、SiC、GaAs FET、HEMTなどの化合物半導体デバイスを対象としている。RF試験は0.6～60.0GHz、DC試験は＋0.5～100V・3A、温度試験は50～250℃で行い、MTBFおよびFITデータを作成可能。

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〒 156-0052 世田谷区経堂5-20-16

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