高電圧絶縁信頼性評価装置 HVUsシリーズ

【HVUsシリーズ】は、HV、EVカー向け部品などの高電圧デバイス試験に最適な高電圧絶縁信頼性評価装置。最大3000Vの印加電圧で、TDDB（ゲート酸化膜の絶縁信頼性）試験、高電圧回路基板やICのエレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグレーション）試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験などが行え、CH個別電圧フィードバックによる安定した印加電圧、機械式リレー不使用の高い信頼性、アクティブガードケーブル採用による低ノイズ計測、CH個別検出回路搭載による素早い短絡検出などの特長を兼備。印加電圧は5CH単位で50〜3000Vの間で任意に設定でき、2000Vのモデルも標準ラインアップ。専用ソフトウェアとの連携で、より便利に／データ表示と収録もサポート。