製品ナビは、工業製品からエレクトロニクス、IT製品まで、探している製品が見つかります

画像処理検査用LEDスポット照明 HLV3シリーズ

シーシーエス(株)

最終更新日:2018/04/13

このページを印刷
  • 画像処理検査用LEDスポット照明 HLV3シリーズ
明るさと均一性を向上、個体差バラつきも低減
【HLV3シリーズ】は、高出力/高均一を両立したスポット照明。従来品比で約2倍の明るさを実現したタイプ「HLV3-22-4S」を含む、全29機種をラインアップ。明るさの個体差を低減した設計により、メンテナンス工数を削減。同社製高解像度テレセントリックレンズに最適化。赤外(860nm)モデルも用意。高性能な平行光・集光レンズで離れた場所へも照射可能。LCDディスプレイを搭載した専用電源にて、細かな制御が行える。

製品カタログ・資料

LEDスポット照明 HLV3シリーズ
LEDスポット照明 HLV3シリーズ

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:1.88MB・高出力/高均一を両立したスポット照明 ・全29機種のラインアップ ・明るさの個体差を低減した新設計 ・従来比最大2倍の高出力化を実現したタイプ(HLV3-22-4Sタイプ)も登場 ・赤外(860nm)モデルも用意 ・シーシーエス製高解像度テレセントリックレンズに最適化 ・LCDディスプレイを搭載した、細かな制御が可能な専用電源 ・高性能な平行光・集光レンズで離れた場所へも照射可能

画像処理検査用LEDスポット照明 HLV3シリーズのお問い合わせ

お問い合わせはこちら
企業ロゴ

新着製品情報

PC制御式波長可変型光源
PC制御式波長可変型光源(株)ケンコー・トキナー
照明製品
照明製品エドモンド・オプティクス・ジャパン(株)
角度可変機構搭載 照明固定シャーシ DE10E1/CE10E1
角度可変機構搭載 照明固定シャーシ DE10E1/CE10E1画像処理環境.com
高輝度レーザー励起光源装置
高輝度レーザー励起光源装置(株)有我工業所
多機能LED照明コントローラ OPPXシリーズ (オプテックス・エフエー)
多機能LED照明コントローラ OPPXシリーズ (オプテッ…株式会社日伝
超高輝度LED混色光源 SLG-450TSL
超高輝度LED混色光源 SLG-450TSLレボックス(株)
LED照明コントローラ triniti TRシリーズ
LED照明コントローラ triniti TRシリーズ東京マシンヴィジョンシステム株式会社
マシンビジョン3Dスキャン向け DLPプロジェクター
マシンビジョン3Dスキャン向け DLPプロジェクタージャパンボーピクセル株式会社

ランキング

近赤外線カメラ用照明 HySiL2000/1500
近赤外線カメラ用照明 HySiL2000/1500シナダイン(株)
LEDインダイレクトスクエア照明
LEDインダイレクトスクエア照明(株)ケンコー・トキナー
マシンビジョン3Dスキャン向け DLPプロジェクター
マシンビジョン3Dスキャン向け DLPプロジェクタージャパンボーピクセル株式会社
多機能LED照明コントローラ OPPXシリーズ (オプテックス・エフエー)
多機能LED照明コントローラ OPPXシリーズ (オプテッ…株式会社日伝
LED照明&タイミングコントローラ RTCC4シリーズ
LED照明&タイミングコントローラ RTCC4シリーズ東京マシンヴィジョンシステム株式会社
照明製品
照明製品エドモンド・オプティクス・ジャパン(株)

企業基本情報

社名:
シーシーエス(株)
住所:
〒 602-8011
京都市上京区室町通出水上ル近衛町38
Web:
http://www.ccs-inc.co.jp

おすすめ情報

  • 1回のトリガー信号で3回の⾼速スキャンを実現した新検査ソリューション

    本システムは、高速パルスLED照明、ラインスキャンカメラ、画像入力ボードおよびライトガイドの4点で構成されています。
    1回のトリガー信号によって、3つの異なる照明を用いて撮像した画像を、従来のラインスキャンの1サイクル分で取得することが可能で、これにより、検査スピードの高速化や精度の向上、検査ステージの削減による設備の省スペース化を実現します。
    また、高速パルスLED照明の光源にR(赤)、G(緑)、B(青)を使用すれば、モノクロカメラを使⽤してカラー画像の合成も可能になります。

  • ラインセンサ用照明 LNLPシリーズ

    放熱のために筐体に冷却ファンを取り付けていましたが、「LNLPシリーズ」は、空気の流れが管理されたクリーンルーム等での使いやすさを追求し、従来品以上の明るさ100万lxをファンレスで実現しました。
    さらに、発光面を片側に寄せた設計(特許出願済み)により、ワークにギリギリまで近づけて浅い角度からの照射が可能となり、微細な欠陥検出の精度が向上しています。