JTAG技術レポート

アンドールシステムサポートでは、インサーキットテスタを越えるJTAGテストの技術レポートを作成した。JTAGテストとは、4本の信号で基板全体を検査し、「見えない・触れない」基板をフィクスチャレスで検査するテストであり、同社では長年の経験と実績を生かした技術力で、様々なシステム開発を高品質かつ短納期にて対応している。レポート内容は、Vol.1の「各分野で使われているJTAGバウンダリスキャンテスト」で、テストの採用企業や適合基板を紹介。Vol.2ではテストの必要性を、Vol.3は実装における問題点の指摘とBGA実装の難しさを、Vol.4ではテストのメリットを解説。さらにVol.5「部品内蔵基板やTSV技術による3DLSlとJTAGテスト」、Vol.6「インサーキットテスタを超えるJTAGテストの基礎」を掲載している。