微少電流・高抵抗測定、部分放電試験のためのシールド環境

高抵抗測定は2次電池や半導体で用いる電気絶縁材料、コンデンサやプリント基板などの電子部品、また各種合成樹脂やゴム材料など幅広い分野において、研究開発から製造、品質検査まで実施されます。
高電圧印加時の半導体素子のリーク電流などを、高感度・高精度に測定するには、誘導ノイズや静電結合、誤差電流を最小にするための配慮(EUTから測定器までを完全にシールドする)が必要です。
当社では様々なフィクスチャサイズに対応できるシールドボックスをご用意しています。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。