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【カタログプレビュー】非接触歪み計測 sDIC

DIC(デジタル画像相関法)による、変形・ひずみ解析のためのソフトウェア・システムを提供します。 サンプルの変形前後 の画像を比較解析する事により、変形やひずみの量・方向・分布を解析します。 本システムを使用する事により、非接触で、 物体のひずみや変形を定量化、分布を可視化する事が可能です。高速の挙動や、マイクロスケール、特殊環境下等の計測でも、 ソフトウェア・カメラ・照明・専用光学系等の周辺機器も含め、総合的にご提案いたします。
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企業基本情報

社名:
西華デジタルイメージ株式会社
住所:
〒 112-0004
東京都 文京区後楽1-5-3 後楽国際ビルディング2階
Web:
https://www.seika-di.com/
TEL:
03-3830-2300