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【カタログプレビュー】SEM試料作製用トリプルイオンミリング ライカ EM TIC 3X

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【ライカ EM TIC 3X】は、走査型電子顕微鏡(SEM)、微細構造分析(EDS、WDS、オージェ、EBSD)やAFM測定のための断面作製装置。3本のイオンビーム(個別に制御可能)に加え、冷却ステージ、マルチサンプルステージなど新機能を搭載。試料を高速かつ広く深くミリングを行い、高品質な断面を作製可能。硬質材料と軟質材料が積層または混在する試料、多孔質試料、熱に敏感な試料、脆性試料、不均一材料などほとんどすべての材料について、変形や損傷を最小限にとどめながら内部構造を明らかにすることができる。
発行元：ライカマイクロシステムズ(株)
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  • ＜品質検査／観察／測定用デジタル顕微鏡システム Leica DMS1000＞

    HDMIモニターを使用して、高精細フルHD画像をライブ表示するデジタルマイクロスコープ。試料のオーバービューから微細構造の観察まで、ライカ光学技術により最大300倍まで拡大観察ができます。DMS1000はPCレス、スタンドアロンでHDモニターなどに直接ライブ表示と画像保存が可能です。内蔵型HDカメラは、最大30fpsの高速フルHDライブ表示、500万画素の静止画撮影を実現しています。

    接眼レンズを覗かず、試料をモニター上でクリアに観察し、高画質静止画像やフルHDムービーの撮影も可能です

    スタンドアロンで、すべての倍率でリアルタイムに追随する、オートスケール機構を装備。校正作業は必要なく、モニター上に表示させたグリッドやスケールがリアルタイムに追随して変化します。取得画像へのスケールバー挿入も可能です。

    コンピューターに接続し、 Leicaイメージングソフトウェア（LAS）を用いて2D測定やフォーカス合成も可能です。