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【カタログプレビュー】技術資料 伝導EMIテストに影響を与える要因

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本資料は、伝導EMIテストに影響を与える要因について解説。EMIテストにおける伝導エミッションは、LISNや絶縁トランスなどの機器を介して電力システムを通じて伝送されるRF信号を測定するために使用される。伝導EMIテストでは、環境や配線から他の信号が拾われ、測定エラーが発生する可能性がある。この実験の目的は、同じ機器を使用していても、ケーブルの種類や配線、ケーブルの配置の違いによって結果が異なる可能性があることをユーザーに理解してもらうことである。
発行元：(株)テクシオ・テクノロジー
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企業基本情報

社名：
(株)テクシオ・テクノロジー
住所：
〒 222-0033
神奈川県 横浜市港北区新横浜2-18-13　藤和不動産新横浜ビル7F
Web：
http://www.texio.co.jp/

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