【カタログプレビュー】表面形状計測システム TopMap Micro.View
【TopMap Micro.View】は、操作性およびコストパフォーマンスに優れたコンパクトな光学式形状測定器。三次元形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定により、表面欠陥の検出が行える。100mmのz方向測定レンジを持つContinuous Scanning Technology(CST)により、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定可能。コンパクトな卓上型で容易に測定でき、高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを有する。ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションのECT(Environmental Compensation Technology)を使うことにより、信頼性の高い正確な測定を実現。製造や研究の分野において、高精度の測定が行える。
発行元:ポリテックジャパン(株)