【PIE-650M】は、金属箔、鋼板、紙、不織布などやガラス、積層板、樹脂、食品、液晶パネルなどの欠陥検出に対応する毎葉タイプの検査装置。高速かつ、高精細な欠陥検出で高い生産効率を実現。検査対象物の大きさ重さにとらわれないハンドリングが可能。検査ニーズに応じたシステム構成で、小規模システムから大規模システムまで柔軟に対応し、製造ラインに合わせた検査装置を提案。