【カタログプレビュー】現象解析システム

高速度カメラを利用した物理量計測システム
特徴
●高速度カメラによる現象撮影と、センサーによる物理量計測を
統合したシステム
●撮影した画像とセンサーの測定値の比較/解析が容易に可能
(カメラ撮影速度と測定サンプリングを同期)
●(株)フォトロン製の高速度カメラで、ソフトウェアの統合が可能
構成例
●落下物の衝撃解析装置
落下物の画像撮影と衝撃力を計測、取得したデータを同期させ、
ソフトウェア上で解析します。
※詳細はカタログをダウンロードしてご確認ください。
気になる点がございましたら、お気軽にTMCシステムへお問合せください。
特徴
●高速度カメラによる現象撮影と、センサーによる物理量計測を
統合したシステム
●撮影した画像とセンサーの測定値の比較/解析が容易に可能
(カメラ撮影速度と測定サンプリングを同期)
●(株)フォトロン製の高速度カメラで、ソフトウェアの統合が可能
構成例
●落下物の衝撃解析装置
落下物の画像撮影と衝撃力を計測、取得したデータを同期させ、
ソフトウェア上で解析します。
※詳細はカタログをダウンロードしてご確認ください。
気になる点がございましたら、お気軽にTMCシステムへお問合せください。
発行元:TMCシステム株式会社