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【カタログプレビュー】現象解析システム

高速度カメラを利用した物理量計測システム

特徴
●高速度カメラによる現象撮影と、センサーによる物理量計測を
 統合したシステム
●撮影した画像とセンサーの測定値の比較/解析が容易に可能
 (カメラ撮影速度と測定サンプリングを同期)
●(株)フォトロン製の高速度カメラで、ソフトウェアの統合が可能


構成例
●落下物の衝撃解析装置
落下物の画像撮影と衝撃力を計測、取得したデータを同期させ、
ソフトウェア上で解析します。


※詳細はカタログをダウンロードしてご確認ください。
 気になる点がございましたら、お気軽にTMCシステムへお問合せください。

企業基本情報

社名:
TMCシステム株式会社
住所:
〒 210-0001
神奈川県 川崎市川崎区本町1-6-1
Web:
http://www.tmcsystem.co.jp/