本資料は、電子デバイス洗浄後における分析の基礎知識について解説。目次は以下。

■なぜ洗浄後に分析が必要なのか?
- なぜ今「分析」が重要なのか
- 分析対象となる残渣
- 残渣が引き起こす不具合例

■ISO規格[ISO 9455-18：2024]と分析手法
- 外観観察(マイクロスコープ)
- 微小物分析(SEM-EDS)
- 有機物残渣分析(FT-IR)
- イオン分析(IC／ROSE Test／C3)
- 信頼性評価(SIR ／ LCR)
- 複数の分析手法を用いた評価事例

■ゼストロンの分析サービス