ポジティブワン株式会社の展示会・セミナー情報
【終了】４月１７日（水）ＮＦＣフォーラム＆ＥＭＶ準拠デバッグテストから認証サービスに関するセミナー
開催期間：2013年04月17日 09:00 〜 2013年04月17日 09:00
URL：http://www.positive-one.com
会場：渋谷マークシティ
製造したＩＣキャッシュカード、スマートフォーンによる決済システムを実現するためには、国際的なデファクト・スタンダードであるカードおよびリーダライタ間の規格に準拠した認証を受ける必要があります。
そのなかで、ＮＦＣフォーラム＆ＥＭＶ準拠に対する認証が必須となってきております。
その認証を受ける前に、事前にデバッグテストができるツールを用意しないといけないというニーズが高まっています。
ポジティブワンでは、ベンダの製造した製品が他のベンダの製造した製品と安定的に相互利用されるためのデバッグテストツール、アナライザツール、ＮＦＣフォーラムやＥＭＶ準拠の磁界強度計測テスト治具の提案をしています。
当セミナーでは、これらのテストツールのご紹介と併せてデモンストレーションを行いますので、製品の機能を身近でご確認いただけます。
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□■ セミナー内容 □■
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1. 弊社取扱いＮＦＣテストツールの概要説明
ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1, NFCIP2, NFC Forum, ICAO, SWP, 7816..
2. ＮＦＣフォーラムおよびＥＭＶのアナログおよびデジタルテストの概要説明
3. ＮＦＣプロトコル解析ツールデモ
4. ＮＦＣフォーラムアナログテスト・デモ（ポジショニングテストでロボット使用）
5. 質疑応答
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◆日時 平成２５年４月１７日（水）
受付開始 １３：５０
セミナー時間 １４：００〜１６：００
◆場所 渋谷マークシティウエスト２２階
東京都渋谷区道玄坂１−１２−１渋谷マークシティウエスト２２階
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当セミナーへ出席をご希望の方は、必要事項をご記入の上、下記アドレス宛へお申し込みください。
□貴社名
□貴部署名
□ご氏名
□ご興味のあるテスト
なお、お申し込みは、会場設置の都合上、４月１２日（金）頃までにお願いいたします。
定員オーバーの場合、お断りすることがございます。
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＜お申し込み先＞
ポジティブワン株式会社
営業本部スマートカードツール・グループ
メールアドレス：poc_sales@positive-one.com
電話：03-5330-8648
以上
【終了】ＮＦＣフォン、スマートカードテストツールに関するセミナーのご案内
開催期間：2013年03月01日 09:00 〜 2013年03月01日 09:00
URL：http://www.positive-one.com
会場：T's渋谷フラッグ ８階 Room8G号室（東京都渋谷区・渋谷駅）
ＮＦＣカード・タグからＮＦＣ搭載スマートフォンの接触、非接触部分の開発からメンテナンスに至るまで、テストツールのニーズがより高まってきました。
これらは、決算システムや個人情報が関連するサービスの市場拡大と、その特性からＮＦＣに関する規格準拠に対応する厳密なテストと認証サービスがより求められてきております。
弊社では、このニーズに答えられるように、ＮＦＣ準拠磁界強度計測テスト治具、ＮＦＣプロトコルアナライザ、ＮＦＣエミュレータツール、ＮＦＣに関する規格準拠のためのテストツール、そして、認証サービスを提供しております。
この度、今後の開発およびメンテナンス業務においてより速く、正確なテストが実施可能なツールをご体験いただきたく、日頃ＮＦＣの技術を支えていらっしゃる皆様へ向けて、セミナーを開催いたします。
当セミナーでは、これらのテストツールのご紹介と併せてデモンストレーションを行いますので、製品の機能を身近でご確認いただけます。
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□■ セミナー内容 □■
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1. 弊社取扱いＮＦＣテストツールの概要説明
ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1, NFCIP2, NFC Forum, ICAO, SWP, 7816..
2. ＮＦＣプロトコル解析ツールデモ
2. ＳＷＰ関連のテストツールデモ
接触部分(UICC, CLF)通信解析、コンプライアンステスト
3. ISO10373-6 & ICAOのアナログテストのデモ
アナログテストのコンプライアンステスト
4. ＮＦＣフォーラムのアナログテストの概要説明
5. 質疑応答
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◆日時 平成２５年３月１日（金）
受付開始 １３：２０
セミナー時間 １３：３０〜１６：００
◆場所 T's渋谷フラッグ ８階 Room8G号室
〒150-0042 東京都渋谷区宇田川町33-6
URL:http://http://www.tsrental.jp/location/shibuya/pdf/map.pdf
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当セミナーへ出席をご希望の方は、必要事項をご記入の上、下記アドレス宛へお申し込みください。
□貴社名
□貴部署名
□ご氏名
□ご興味のあるテスト
なお、お申し込みは、会場設置の都合上、２月２２日（木）頃までにお願いいたします。
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＜お申し込み先＞
ポジティブワン株式会社
営業本部 スマートカートツール・グループ
メールアドレス：keolabs@positive-one.com
電話：03-5330-8648
以上
【終了】【NFC、ICAO、ISO14443．．．】テストツールの決定版 セミナー開催決定
開催期間：2012年06月07日 09:00 〜 2012年06月07日 09:00
URL：http://www.positive-one.com/22/2012-02-01-05-41-55/1374-keolabs-japan-seminor.html
会場：Ｔ’ｓ渋谷フラッグ 〒150-0042東京都渋谷区宇田川町33-6Shibuya Flag (渋谷駅から徒歩５分程）
GoogleがNFCを採用するなどNFCの技術を搭載したスマートフォンの需要が急速に高まっております。
このトレンドをいち早く察知した弊社ではNFC搭載スマートフォンの接触、非接触部分の両方を通信解析できるテストツールに特に力を入れてきました。
そこで、NFCの技術を支えておられる皆様方が開発、メンテナンス業務をされる際により速く、正確にテストを実施可能なツールをこのたび用意させていただきました。
この度、これらのツールを皆様の開発及びメンテナンスでお役に立てて頂きたく、弊社のテストツールに関するセミナーを企画しました。
当セミナーではこれらのテストツールでご紹介させて頂くと共に実際にデモンストレーションを実施いたしますので製品の機能を実際にご覧頂けます。
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○● セミナー内容情報 ●○
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１、Keolabsが出すテストツールのプレゼンテーション
・ スマートカードISO17025認証テストハウス「Soliatis LAB」がだすテストツール概要
・ 接触型及び非接触型のスマートカードのプロトコルアナライザツールの紹介
・ NFCFORUM, ISO10373-6, ISO10373-7, EMVCo等で必要な器具の紹介
・ ISO14443, Felica, ISO15693, NFCIP1, NFCIP2, NFC Forum, ICAO, SWP, 7816....
に関連するコンプライアンステストの紹介
２、NFCフォ-ンテストツールのデモンストレーション
接触部分(UICC、CLF)通信解析、コンプライアンステスト
３、NFCフォーンテストツールのデモンストレーション
非接触型部分(NFC Forum)通信解析、コンプライアンステスト
４、質疑応答
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◆ 会期 ２０１２年６月７日（木）
受付１３時〜
開場１３時１５分〜
閉場１６時３０分
◆ 会場 Ｔ’ｓ渋谷フラッグ
〒150-0042東京都渋谷区宇田川町33-6Shibuya Flag (渋谷駅から徒歩５分程）
セミナーへご出席をご希望の方は必要項目をご記入の上、下記アドレス宛てにご連絡ください。
◆ ご連絡項目
・ 会社名
・ 部署
・ お名前
・ 電話番号
・ ご興味のあるテスト
◆ 申し込み先：keolabs@positive-one.com
尚、お申し込みは会場設置の関係上５月３１日頃までにお願いいたします。
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ポジティブワン株式会社
Keolabs スマートカード・テストツール営業チーム
〒150-0043 東京都渋谷区道玄坂1-12-1
渋谷マークシティ・ウエスト22F
TEL 03-5330-8648 FAX 03-4360-5301
http://www.positive-one.com
keolabs@positive-one.com
