～テスト時間が従来の10分の1に短縮～

東京、2015年3月6日発 –キーサイト・テクノロジー合同会社（職務執行者社長：梅島 正明、本社：東京都八王子市高倉町9番1号）は、業界で最も優れたRF測定性能と速度により、テスト時間を従来の10分の1に短縮するE5080A ENAベクトル・ネットワーク・アナライザを発表します。この新しいENAは、新たに開発したプラットフォームが採用され、大型のカラー・タッチスクリーン・ディスプレイを搭載し快適な操作性も提供します。

E5080Aには差動部品を含め、増幅器、ミキサー、アンテナ、ケーブルなど、アクティブコンポーネントとパッシブコンポーネントの測定に必要なすべての機能が揃っています。また、RFネットワーク・アナライザの定番モデルであるE5071C ENAネットワーク・アナライザと新製品E5080Aの性能を比較すると、ダイナミックレンジは仕様で135dB（代表値147dB）と12dB拡大し、測定速度は実環境を模擬したテストシナリオで最大10倍高速化しており、精度とスループットを大幅に改善しています。これらの機能と性能向上により、RFコンポーネントの研究開発や製造現場でE5080Aが新たな業界標準となります。

今回新しく開発したプラットフォームは、当社のPNAおよびPXIシリーズのソフトウェアアーキテクチャをベースとし、従来のENAネットワーク・アナライザの好評な機能を踏襲しています。E5080Aの新しいタッチ方式のグラフィカル・ユーザー・インターフェイス（GUI）では、タブ表示のソフトキーとドラッグ・アンド・ドロップ操作が可能です。この新世代のGUIは、測定フローの簡素化、高速／高精度な測定など、お客様にご満足いただける使い勝手を実現しています。

当社の電子部品計測事業部長である拔山 晃は、次のように語っています。「E5080Aには、4Gと次世代のスマートフォン、タブレット、トランシーバ基地局で使用される最先端のRFコンポーネントの特性評価に必要な機能と性能が備わっています。E5080Aの優れたアナログ性能は、研究開発でのより良いデザインマージンと製造ラインでのスループットの向上を可能にします。」