ローデ・シュワルツ・ジャパン株式会社（本社：東京都新宿区 代表取締役：Klaas Hoekstein）は、2015年4月22 日からオシロスコープ R&S RTEシリーズに新たに1.5GHzと2GHzモデルを加えました。さらにフロント・エンドの性能をクラス最高レベルに刷新し、これまでにないハードウェア性能を実現しました。

■ハードウェアで500μV/divを実現
新しいR&S RTEはフロント･エンドのノイズフロアを大きく改善しました。入力感度は50Ωカップリング時にハードウェアで500 μV/divを帯域制限なしで実現します。 このフロント･エンドは、新しくシリーズに追加された1.5GHzおよび2GHzモデルのみならず、今後生産されるすべてのR&S RTEシリーズに搭載されます。 チャネル数は各モデルで2チャネル・モデルと4チャネル・モデルを用意しています。
さらに、R&S RTE-K17 高分解能(HD)モードとあわせて使用することにより、これまで観測することが難しかったμVオーダーの電圧波形も観測できるようになります。 具体的には、MOSFETのON抵抗の測定のように、大きな電圧波形の中の小さな変化を測定したい場合や、筋電位などの出力電圧の小さい波形を観測する場合など、 さまざまなアプリケーションにおいて応用が可能な機能です。

■100万回の波形更新レート
波形更新レートは、従来通り100万回/秒を維持しています。サンプリング･レートは5GSa/sで、メモリは1チャネルあたり最大200Mサンプルまで拡張できます。 高速なFFT機能やデジタル・トリガなど、これまでのR&S RTEシリーズの特長をそのままに、フロント・エンドのアナログ部分の性能を大きく向上させました。
MSO (ミックスド･シグナル・オプション) を用いれば、5GSa/sのサンプリング･レートで最大16チャネル使用することができます。 さらに、大きな10.4" XGAのスクリーンで、設定が複雑なマスク試験でさえも直感的に操作することが可能な使いやすいGUIも兼ね備えています。

■EMIデバッグに最適なオシロスコープ
これまでは、限定的なFFT機能やノイズ性能の制限により、オシロスコープをEMIデバッグに用いることはあまり一般的ではありませんでした。 しかしR&S RTEシリーズは、自社開発のASICが実現する高速FFTや超低ノイズを実現したフロント・エンドの性能により、EMIのプリ･コンプライアンス試験用の 測定器として最適な1台に仕上がっております。
これにより革新的なオシロスコープとして数々の賞を獲得し、2015年1月には、カリフォルニア州サンタクララ で開催されたDesignCon 2015にて、EMI Design Tools & Test部門でBest in Design & Test Product Awardsを受賞しました。